[发明专利]一种用于测试薄片介质复介电常数的谐振器以及系统

权利要求书

1.一种用于测试薄片介质复介电常数的谐振器，包括，微带基板，其特征在于，进一步包括：微带线谐振带条，所述微带线谐振带条附于所述微带基板上方，所述微带线谐振带条两端为信号输入端口，中间为一宽带带阻谐振结构，所述宽带带阻谐振结构上方用于放置待测薄片介质。

2.根据权利要求1所述的谐振器，其特征在于，所述微带线谐振带条的宽度可调节。

3.根据权利要求1所述的谐振器，其特征在于，所述微带线谐振带条的长度可调节。

4.根据权利要求1所述的谐振器，其特征在于，所述微带谐振带条材质采用金属铜。

5.根据权利要求1所述的谐振器，其特征在于，所述带阻谐振结构呈M形。

6.根据权利要求5所述的谐振器，其特征在于，所述带阻谐振结构M形两边的带条宽度小于中间带条的宽度。

7.根据权利要求5所述的谐振器，其特征在于，所述带阻谐振结构M形两边的带条长度小于中间带条的长度。

8.根据权利要求1所述的谐振器，其特征在于，所述谐振器采用印刷电路技术进行加工。

9.根据权利要求1所述的谐振器，其特征在于，所述微带基板板材为1mm厚的FR-4双面板，介电常数为4.4。

10.根据权利要求1所述的谐振器，其特征在于，所述微带谐振带条材质厚度为0.035mm。

11.一种薄片介质复介电常数测试系统，其特征在于，包括：微波信号源、权利要求1至10任一项所述的谐振器，以及矢量网络分析仪，所述微波信号源与所述谐振器信号输入端连接，产生微波信号通过所述信号输入端进入所述谐振器，所述矢量网络分析仪与所述谐振器输出端链接，所述矢量网络分析仪用于测试分析所述谐振器产生的谐振频率。