[发明专利]用于监测移动线性纺织材料特别是纱线的质量的装置在审
| 申请号: | 201310571380.X | 申请日: | 2013-09-30 |
| 公开(公告)号: | CN103852476A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
| 发明(设计)人: | J·斯洛彭斯基;P·考萨里克;J·里奇特 | 申请(专利权)人: | 里特捷克有限公司 |
| 主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;B65H63/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;刘春元 |
| 地址: | 捷克奥尔利*** | 国省代码: | 捷克;CZ |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 监测 移动 线性 纺织 材料 特别是 纱线 质量 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于监测移动线性纺织材料特别是纱线的质量的装置,该装置包括一个盒子,在盒子中布置至少一个图像传感器,至少一个放射源与该图像传感器可对准或已对准。
背景技术
已知用于监测移动线性纺织材料(特别是纺织机械中的纱线)的质量的装置,例如根据CZ299684,EP1319926A1,CZ PV2009-634的那些,包括多个若干电子组件,它们在操作期间生成废热。这些组件通常布置在一个密闭盒子内,该盒子使它们与周围环境至少部分绝缘。因此,在操作期间特别是在启动期间,盒子不同部分的温度不均匀地变化。另外,这些装置中单独组件的特性部分依赖于温度,当然,这会影响装置输出信号的值,并且由此也影响其功能的可靠性和可重复性。
用于监测移动线性纺织材料的质量的装置组件(其特性根据温度改变),在装置的盒子中被布置在需要的构造布置的地上的互相不同并且相对遥远的地方上,并且因此在装置启动时它们不均匀地加热。从启动开始达一定的时间间隔,它们会引起灵敏度不稳定,并且因此引起了装置的输出信号的一定改变,所述装置的输出信号的一定改变不精确对应于为移动线性纺织材料图象的输入信号。那尤其在装置校准期间具有负面效果,所述装置的校准在它的生产期间和启动期间被实行。由于这个原因,为了得到最重要参数,通常需要调节装置达特定时间段,以便尽可能地实现与单独组件温度有关的稳定工作条件。
因此,已知的用于监测移动线性纺织材料的质量的装置存在一定缺点,这些缺点由监测结果的质量和损失时间(也就是为了将所有组件加热到操作温度所必需的时间间隔)之间的折衷引起。
本发明的目的是缩短装置或者至少装置组件中的一些达到操作温度所需的时间,能够实现移动线性纺织材料的操作监测,并在没有损失时间的情况下以及在没有是否已经达到操作温度的不确定性的情况下来实现可靠结果,所述损失时间源于达到装置的操作温度所需的长时间间隔。
发明内容
本发明的目的已经由一种用于监测移动的线性纺织材料特别是纱线的质量的装置实现,其原理在于至少一个温度传感器和/或至少一个加热构件位于盒子的内部空间中。
因此可以借助于监测关键组件的当前温度,或者视情况而定借助于主动生成热量用于加速加热这些组件以达到操作温度的过程,来主动控制用于监测纱线质量的传感器的单独的组件的加热过程。同样,实现对照射被扫描纱线的光输出的主动补偿,并实现对来自传感器的依赖于当前温度的测量元件的信号的主动补偿。
为了加速监测温度和/或加速加热,如果温度传感器和/或加热构件与图像传感器相接触,那么它是有利的。
通过将温度传感器和/或加热组件集成在图像传感器的半导体芯片上,来实现进一步的改进。
另外,如果加热构件由光学芯片的半导体结构组成,那么它是有利的,所述光学芯片视情况而定包括芯片的寄生结构。
附图说明
附图中示意性地示出了根据本发明的用于监测移动的线性纺织材料的质量的装置的实施例的示例,其中图1图示了具有一个图像传感器的装置的单独组件的连接布置,图2表示了在垂直于移动的线性织物的路径的横截面中在盒子中具有一个图像传感器的装置的布置,而图3示出了在垂直于移动的线性纺织材料的路径的横截面中在盒子中具有一个线性图像传感器和两个感测光反射的光学传感器的装置的布置。
具体实施方式
在根据附图1的实施例的例子中,根据本发明的用于监测移动的线性纺织材料的质量的装置包括图像传感器1(在所图示的实施例中为线性图像传感器),在其对面布置有放射源3,例如光源。透镜2或者另一个光学构件位于放射源3和图像传感器1之间,用来将来自放射源3的放射射线引导为平行波束。在透镜2和图像传感器1之间,空间被创建用于线性纺织结构7的通道,在所图示的实施例中,线性纺织结构7是纱线。图像传感器1通过双向传导杆51与微处理器5或已知电子电路互连,用于其控制并且处理和/或评估图像传感器1的信号。放射源3与微处理器5的出口52互连用于放射的调节。
存在温度传感器4和一个加热构件6布置在图像传感器1附近或者直接布置在图像传感器1的主体上。温度传感器4的出口与微处理器5的入口53互连用于监测温度,而加热构件6与微处理器5的出口54互连用于温度的调节。
根据本发明,装置的实施例的所描述的示例的所有组件或至少它们中的一些可以被集成到一个半导体集成定制ASIC电路中。
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