[发明专利]一种定量修补装置及其自动图像修补方法

说明书

技术领域

 本发明有关一种修补装置及修补方法，特别是指一种能应对多种复杂状况，如膜层厚度不均，异物尺寸不定等的定量修补装置及其自动图像修补方法。

背景技术

与LCD简单的Layout（布局布线）设计不同，LTPS-AMOLED（Low Temperature Poly-silicon-Active Matrix/Organic Light Emitting Diode，低温多晶硅技术-有源矩阵有机发光二极管面板）繁复的Over layer及整板ELA后栅极线路变化会对像素显示造成极大影响，因此需要进行选择性修补。

目前实现选择性修补的方式主要有两种：第一，纳秒级激光向皮秒级激光甚至飞秒级激光发展，通过减小脉冲宽度，降低每个脉冲的能量来实现选择性修补；第二，通过将一束激光分解成多束激光而降低每一束激光的能量来实现选择性修补。但是，以上所有方式都是基于减小激光单束能量或每个脉冲的能量实现选择性修补，只能依靠经验去判断和设定能量，无法真正应对多种复杂状况，如膜层厚度不均，异物尺寸不定等，无法做到高可靠度的选择性修补。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种利用灰度的实时监测进行修补的定量修补装置及其自动图像修补方法

为达到上述目的，本发明提供一种定量修补装置，其包括有激光源、衰减器、镜头，及比对控制单元，该激光源电连接该比对控制单元，该激光源发出的激光经由该衰减器及镜头入射至待测基底表面，该待测基底表面具有异物，该异物具有一定高度，该比对控制单元获取该异物及异物周围区域的待测基底表面的图像，并根据图像中异物处灰度值与周围区域灰度值比对后的差值控制该激光源输出与停止，该激光源输出激光时对异物进行轰击以修补该待测基底表面。

所述比对控制单元包括光源、摄像机及与摄像机连接的计算机，该计算机同时连接所述激光源，该光源发出的光束照射到该待测基底表面，经该待测基底表面反射后由该摄像机接收，并获得异物及异物周围区域的待测基底表面的图像，该摄像机将该图像传输给该计算机，由该计算机对该图像中异物处灰度值与周围区域灰度值比对并控制该激光源输出激光与停止。

所述衰减器与镜头之间的光路上设有分光镜，该分光镜的反射面一侧设有自动对焦单元，由所述衰减器出射的激光直接透过该分光镜入射至待测基底表面，并由待测基底表面反射后再由分光镜反射至该自动对焦单元。

所述衰减器与所述镜头之间的光路上设置有反射镜，所述激光源与所述衰减器的光轴同该反射镜的法线呈45°角。

所述反射镜与所述镜头之间的光路上设置有分光镜，所述反射镜的镜面与该分光镜的镜面垂直，且由所述反射镜反射的激光直接由该分光镜透射至待测基底表面。

本发明还提供一种自动图像修补方法，该方法包括：

步骤一、获取待测基底表面的异物及异物周围区域的待测基底表面的图像，光源发出的光束照射到待测基底表面，经过待测基底表面反射后由摄像机接收，摄像机将获取的异物及异物周围区域的待测基底表面的图像传输给计算机，计算机得到需要加工的区域的图形；

步骤二、对步骤一中获取的图像进行扫描，扫描至灰度值相同的区域，计算机控制激光源不进行激发，该区域为异物周围待测基底便面的正常区域；当扫描到达灰度值不同的区域，计算机控制激光源输出激光开始进行轰击，该轰击区域为待修补的异物区域；

步骤三、在完成一次扫描后，重复步骤二与步骤三，摄像机重新拍摄图像并将新的灰度值传输到计算机，计算机进行分析并进行第二次扫描轰击、第三次扫描轰击直至修补完成，形成自动修补，当修补区域灰度值与正常区域灰度值相同，或修补区域灰度值初次小于正常区域灰度值或修补区域灰度值初次大于正常区域灰度值，或修补区域灰度值初次出现拐点时修补完成。

本发明通过对图像中异物区域灰度值与正常区域灰度值进行比对并实时反馈，可实现定量自动修补。

附图说明

图1为本发明定量修补装置的结构示意图；

图2为本发明中对异物图像进行扫描的示意图。

具体实施方式

为便于对本发明的结构及方法以及达到的效果有进一步的了解，现结合附图并举较佳实施例详细说明如下。