[发明专利]电性连接结构及其制备方法有效
申请号: | 201310556722.0 | 申请日: | 2013-11-11 |
公开(公告)号: | CN103985667B | 公开(公告)日: | 2017-03-29 |
发明(设计)人: | 陈智;刘道奇;黄以撒;刘健民 | 申请(专利权)人: | 财团法人交大思源基金会 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/528 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 曹玲柱 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 连接 结构 及其 制备 方法 | ||
1.一种用以电性连接一第一基板及一第二基板的电性连接结构的制备方法,其特征在于,包括下列步骤:
(A)提供一第一基板及一第二基板,其中该第一基板上设有一第一铜膜,该第二基板上设有一第一金属膜,该第一铜膜的一第一接合面为一含(111)面的接合面,且该第一金属膜具有一第二接合面;以及
(B)将该第一铜膜及该第一金属膜相互接合以形成一接点,其中该第一铜膜的该第一接合面与该第一金属膜的该第二接合面相互对应。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其中该第一铜膜的该第一接合面及该第一金属膜的该第二接合面均为一含(111)面的接合面。
3.根据权利要求1所述的制备方法,其中该第一铜膜包括多个具有(111)面的铜晶粒,以该铜晶粒的(111)面的法向量与接合面的法向量的角度为15度定为(111)面的基础下,在该含(111)面的接合面中,以该含(111)面的接合面的总面积为基准,40-100%的总面积为(111)面。
4.根据权利要求1所述的制备方法,其中该第一金属膜的材料选自由金、银、铂、镍、铜、钛、铝及钯所组成的群组。
5.根据权利要求1所述的制备方法,其中该第一金属膜为一第二铜膜。
6.根据权利要求5所述的制备方法,其中该第一铜膜及该第二铜膜的材料分别为一接合面为(111)面的铜层、或一纳米双晶铜层。
7.根据权利要求1所述的制备方法,其中在步骤(A)前还包括一步骤(A’):以酸液清洗该第一铜膜的该第一接合面与该第一金属膜的该第二接合面。
8.根据权利要求6所述的制备方法,其中该纳米双晶铜层的50%以上的体积包括多个晶粒。
9.根据权利要求7所述的制备方法,其中该晶粒为柱状双晶体。
10.根据权利要求8所述的制备方法,其中该晶粒彼此间互相连接,该每一晶粒是由多个纳米双晶铜沿着[111]晶轴方向堆叠而成,且相邻的该晶粒间的堆叠方向的夹角为0至20度。
11.根据权利要求1所述的制备方法,其中在步骤(B)中,是通过加压以将该第一铜膜及该第一金属膜相互接合。
12.根据权利要求1所述的制备方法,其中在步骤(B)中,是在100-400℃的温度下,通过加压以将该第一铜膜及该第一金属膜相互接合。
13.根据权利要求1所述的制备方法,其中在步骤(B)中,是在1-10-3torr真空度下将该第一铜膜及该第一金属膜相互接合。
14.一种用以电性连接一第一基板及一第二基板的电性连接结构,其特征在于,包括:
一第一基板;
一第二基板;以及
一接点,设于该第一基板与该第二基板间,其中该接点由一第一铜膜及一第一金属膜相互接合而成,且在该第一铜膜与该第一金属膜间的接面包括多个晶粒,而该晶粒沿着[111]晶轴方向堆叠而成。
15.根据权利要求14所述的电性连接结构,其中该晶粒为柱状晶粒。
16.根据权利要求14所述的电性连接结构,其中该第一金属膜的材料选自由金、银、铂、镍、铜、钛、铝及钯所组成的群组。
17.根据权利要求14所述的电性连接结构,其中该第一铜膜的材料为一接合面为(111)面的铜层、或一纳米双晶铜层。
18.根据权利要求17所述的电性连接结构,其中该纳米双晶铜层的50%以上的体积包括多个晶粒。
19.根据权利要求18所述的电性连接结构,其中该晶粒为柱状双晶体。
20.根据权利要求18所述的电性连接结构,其中该晶粒彼此间互相连接,该每一晶粒由多个纳米双晶铜沿着[111]晶轴方向堆叠而成,且相邻的该晶粒间的堆叠方向的夹角为0至20度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于财团法人交大思源基金会,未经财团法人交大思源基金会许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310556722.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造