[发明专利]一种Tb、Mn 和Ni 三元共掺杂的低漏电流BiFeO3 薄膜及其制备方法有效
申请号: | 201310542453.2 | 申请日: | 2013-11-04 |
公开(公告)号: | CN103601248A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 谈国强;董国华;罗洋洋 | 申请(专利权)人: | 陕西科技大学 |
主分类号: | C01G49/00 | 分类号: | C01G49/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710021 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tb mn ni 三元 掺杂 漏电 bifeo sub 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种制备Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)将硝酸铋、硝酸铁、硝酸铽、醋酸锰和乙酸镍按(0.91-0.97):(0.96-x):(0.08-0.14):0.04:x的摩尔比溶于由乙二醇甲醚和醋酸酐混合而成的混合液中,并搅拌均匀,得到BiFeO3前驱液;其中,BiFeO3前驱液中总的金属离子浓度为0.1~0.5mol/L,x=0.01~0.02;
2)将BiFeO3前驱液旋涂在FTO/glass基片上制备湿膜,将湿膜于180~260℃烘烤得干膜,然后在550℃退火8~13min,得到晶态BiFeO3薄膜;
3)待晶态BiFeO3薄膜冷却后,再重复步骤2)使晶态BiFeO3薄膜达到所需厚度,即得到Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜。
2.根据权利要求1所述的制备Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜的方法,其特征在于:所述的步骤1)混合液中的乙二醇甲醚和醋酸酐的体积比为(1:1)~(4:1)。
3.根据权利要求1所述的制备Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜的方法,其特征在于:所述的步骤1)中硝酸铋、硝酸铁、硝酸铽、醋酸锰和乙酸镍的摩尔比为0.94:(0.96-x):0.11:0.04:x。
4.根据权利要求3所述的制备Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜的方法,其特征在于:所述的步骤2)中将BiFeO3前驱液旋涂在FTO/glass基片上前,BiFeO3前驱液静置24~32h。
5.根据权利要求3所述的制备Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜的方法,其特征在于:所述的步骤2)中湿膜的烘烤时间为6~12min。
6.一种采用权利要求3~5中任意一项权利要求所述方法制备的Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜,其特征在于:该Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜的化学组分为Bi0.89Tb0.11Fe0.96-xMn0.04NixO3,x=0.01~0.02;且为六方结构属于R3c空间群,在350kV/cm的电场下,Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜漏电流密度在10-5A/cm2以下,在100kHz的测试频率下介电常数为240~270。
7.根据权利要求6所述的Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜,其特征在于:x=0.02,该Tb、Mn和Ni三元共掺杂的低漏电流BiFeO3薄膜晶粒尺寸在50~80nm。
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