[发明专利]处理器芯片及其低功耗设计的方法无效

专利信息
申请号: 201310532604.6 申请日: 2013-10-30
公开(公告)号: CN103544360A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 周仲武 申请(专利权)人: 中颖电子股份有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 徐洁晶
地址: 200335 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 处理器 芯片 及其 功耗 设计 方法
【权利要求书】:

1.一种处理器芯片,包括:

多个触发器链(401),由自动测试综合工具生成,每个所述触发器链(401)分别包括连接成串行移位模式的多个通用触发器(402);

一个或多个组合电路(403),间隔连接于多个所述触发器链(401)之间,所述组合电路(403)和所述触发器链(401)均连接到同一主电源,所述主电源为可开关电源;

内存(405),通过直接内存访问单元分别与多个所述触发器链(401)相连接,所述内存(405)连接到一常开电源而始终有电。

2.根据权利要求1所述的处理器芯片,其特征在于,在所述主电源关闭之前,所述触发器链(401)通过移位输出方式将所有通用触发器(402)中的内容送出并直接写到所述内存(405)里。

3.根据权利要求1所述的处理器芯片,其特征在于,所述组合电路(403)包括与门电路、或门电路、非门电路、与非门电路以及异或门电路中的一种或者多种。

4.根据权利要求1所述的处理器芯片,其特征在于,所述处理器芯片适用于110nm~180nm之间的工艺。

5.一种如权利要求1所述的处理器芯片的低功耗设计的方法,依次包括:寄存器传输级设计步骤、逻辑综合步骤、自动测试综合步骤、一次静态形式验证步骤、一次静态时序验证步骤、自动布局布线步骤、二次静态形式验证步骤、二次静态时序验证步骤、静态功耗验证步骤、动态功耗验证步骤、动态功能验证步骤、流片步骤以及自动测试激励生成步骤;

其中,在所述自动测试综合步骤中,借用自动测试综合工具生成多个触发器链(401),每个所述触发器链(401)分别包括连接成串行移位模式的多个通用触发器(402),多个所述触发器链(401)通过直接内存访问单元与内存(405)相连接。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在所述主电源关闭之前,所述触发器链(401)通过移位输出方式将所有通用触发器(402)中的内容送出并直接写到所述内存(405)里。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述主电源恢复之后,所述内存(405)将其中的内容读出,重新移位填充所有通用触发器(402),使其恢复失电前的内容。

8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述组合电路(403)包括与门电路、或门电路、非门电路、与非门电路以及异或门电路中的一种或者多种。

9.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述处理器芯片适用于110nm~180nm之间的工艺。

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