[发明专利]一种X线平板探测器图像坏线的修补方法

说明书

本发明公开一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其包括步骤：计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度；当异常度大于预设的第一阈值时，进一步判断异常度是否大于预设的第二阈值，若是，忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值，通过坏线坐标周围的非损坏像素区域，在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理，得到最终的修补图像，否则，进一步检测坏线内平行于坏线方向的明显的边缘，对边缘进行曲线拟合，并经过插值及平滑处理得到最终的修补图像。本发明无需修改X线平板探测器的参数，又充分利用了坏线区域的有效像素值，达到了较好的修复效果，并保留了X光图像的有效诊断信息，对提高诊断具有积极意义。

技术领域

本发明涉及医学图像处理技术，尤其是涉及一种X线平板探测器图像坏线的修补方法。

背景技术

目前X线平板探测器较以前的胶片成像有很多优点，如空间分辨率高、空间畸变小、有灵活的后处理过程等。但是探测器由于制作工艺复杂，在出厂时、运输过程中或者使用一段时间之后会出现异常的亮点、暗点和坏点坏线等缺陷。目前厂家自带坏点和坏线矫正程序，相比坏点矫正程序，坏线矫正程序更容易因为坏线宽度和坏线变化剧烈程度而出现修复不足的痕迹。这时需要一种方法进行二次修复，消除或者淡化坏线痕迹。

中国专利CN 200510026786.5提出一种X射线数字成像的校正方法，该方法是根据对成像链的物理学分析，利用数学模型对数字平板进行漂移校正，空间非均匀性校正，坏点校正后，完整的X射线信息的数字图像。但是此方法只能矫正图像坏点且需要对X光平板探测器进行改动。

中国专利申请CN201010135142.0提出一种处理X线平板探测器图像坏线的方法及其装置，此方法首先检测X线平板探测器坏线的位置，然后使用坏线的邻域内的非坏线图像像素的图像数据计算补偿量，从而修复图像的坏线。此方法忽略了坏线中的有效像素值，导致修复结果图像在坏线区域的像素为人工制造，失去了诊断意义。

发明内容

本发明提出一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，在厂家矫正结果的基础上再次对坏线区域进行修补达到彻底去除坏线的目的，以解决现有技术采用简单的插值方法对图像坏线进行处理导致修复效果不佳的技术问题。

本发明采用如下技术方案实现：一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其包括步骤：

A、计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度diffVal；

B、当异常度diffVal大于预设的第一阈值T时，进一步判断异常度diffVal是否大于预设的第二阈值t，若是，转入步骤C，否则转入步骤D；

C、忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值，通过坏线坐标周围的非损坏像素区域，在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理，得到最终的修补图像f_(x,y)；

D、检测坏线坏线方向明显的边缘，对边缘进行曲线拟合，并经过插值及平滑处理得到最终的修补图像f_(x,y)；

其中，第一阈值T的计算公式为第二阈值t的计算公式为N为坏线方向上像素点的个数，Max(GrayScale)为X线平板探测器图像的最大灰度值，X_i为坏线上各像素点的像素值，与分别是与坏线左右两侧相邻的两条完好的像素线上各像素点的像素值。

其中，X线平板探测器图像中有L条上下贯穿平板的坏线，坏线坐标为Def_l，其中l＝1,…,L，则异常度diffVal的计算公式如下：

其中，步骤C中使用插值平滑法对图像进行处理的计算公式如下：f_(x,y)＝cof·I_(x,-1)+(1-cof)·I_(x,L+1)，x＝1,2,…R；y＝1,…,l；