[发明专利]一种薄膜晶体管开关及其制造方法有效
申请号: | 201310411135.2 | 申请日: | 2013-09-10 |
公开(公告)号: | CN103474473A | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 杜鹏;陈政鸿 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 518000 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜晶体管 开关 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,特别是涉及一种薄膜晶体管开关及其制造方法。
背景技术
在液晶显示面板的检测中,检测线路常用的设计方法有两种,一种是检测线路和面板内显示区的扫描线或数据线直接相连,采用这种方式的设计在检测完毕后需要进行激光切割(Laser cut)把测试线路和显示区内的线路切断。第二种方式是测试线路和显示区的信号线通过一个TFT(Thin Film Transistor,薄膜场效应晶体管)的开关连接,检测时TFT的栅极侧加高电压,此时开关处于导通状态,信号能够进入显示区。当面板正常工作时,TFT的栅极侧加低电压,此时开关关闭,测试线路和扫描线或数据线的连接断开,省去了laser cut这道制程。
传统的用于检测线路的开关TFT只有3个电极:G(栅极)、D(漏极)、S(源极)。TFT在面板正常工作时长期处于栅电极为负偏压的状态,可能导致TFT中半导体层的电学特性发生变化,漏电流增大。图1是开关TFT的漏电线路图,如图1所示,如果采用短路棒(shorting bar)设计的时候,两个TFT的漏极11、14之间连接shorting bar,两个TFT的源极12、15连接不同的扫描线(GL)或者数据线(DL)。两个栅极13、16接低电压以使两个TFT关闭,如果此时发生漏电,漏电流能通过两个TFT以及短路棒,进而造成不同扫描线或者数据线之间的短路,即不同信号之间的短路,对显示产生不良影响。
发明内容
本发明解决的技术问题是提供一种薄膜晶体管开关及其制造方法,能够在开关处于关闭状态时降低沟道中的漏电流,改善开关的特性。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种薄膜晶体管开关,包括栅极、漏极、源极、半导体层以及第四电极,漏极连接第一信号,栅极连接控制信号以控制开关的导通或关闭,开关导通时源极输出第一信号,第四电极和栅极分别设置于源极和漏极的两侧,且第四电极为导电材料,其根据需要连接不同的电位。
其中,开关导通时,栅极和第四电极接高电位。
其中,第四电极的电位与栅极的电位相同。
其中,第四电极的电位与栅极的电位不相同。
其中,开关还包括栅绝缘层以及钝化层,栅绝缘层设置在栅极上,半导体层设置在栅绝缘层上,漏极和源极设置在半导体层上,上面设置钝化层,第四电极设置在钝化层上,开关关闭时,栅极接低电位,第四电极连接高电位以导走积累在半导体层中且远离栅极侧的电子,之后第四电极接低电位。
其中,第四电极接低电位时,其电位与栅极的电位相同。
其中,第四电极接低电位时,其电位与栅极的电位不相同。
其中,开关还包括栅绝缘层以及钝化层,栅绝缘层设置在栅极上,漏极和源极设置在所述栅绝缘层上,上面设置半导体层,第四电极设置在半导体层上,钝化层设置在第四电极的外围,开关关闭时,栅极接低电位,第四电极接地以导走积累在半导体层中且远离栅极侧的电子。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供了另一种薄膜晶体管开关的制造方法,包括:依次在基底上制作栅极和栅绝缘层,栅极用于连接控制信号以控制开关的导通或关闭;在栅绝缘层上制作一半导体层;在半导体层上分别制作漏极和源极并覆盖一钝化层,漏极用于连接第一信号;在钝化层上制作第四电极,第四电极用于根据需要连接不同的电位。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供了又一种薄膜晶体管开关的制造方法,包括:依次在基底上制作栅极和栅绝缘层,栅极用于连接控制信号以控制开关的导通或关闭;在栅绝缘层上分别制作漏极和源极,漏极用于连接第一信号;半导体层制作在漏极和源极上并与栅绝缘层接触;第四电极制作在半导体层上,并在第四电极的周围覆盖钝化层,第四电极用于根据需要连接不同的电位。
通过上述方案,本发明的有益效果是:一种薄膜晶体管开关通过在传统的栅极、漏极、源极基础上增加第四电极,并且漏极连接第一信号,栅极连接控制信号以控制开关的导通或关闭,开关导通时源极输出第一信号,第四电极和栅极分别设置于半导体层的两侧,且第四电极为导电材料,并根据需要连接不同的电位,能够在开关处于关闭状态时降低沟道中的漏电流,改善开关的特性。
附图说明
图1是现有技术中薄膜晶体管开关的漏电线路图;
图2是本发明第一实施例的薄膜晶体管开关的符号示意图;
图3是本发明第一实施例的薄膜晶体管开关的结构示意图;
图4是本发明第二实施例的薄膜晶体管开关的结构示意图;
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