[发明专利]先蚀后封芯片倒装三维系统级金属线路板结构及工艺方法有效
申请号: | 201310340428.6 | 申请日: | 2013-08-06 |
公开(公告)号: | CN103400771A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 张友海;张凯;廖小景;王亚琴;王孙艳 | 申请(专利权)人: | 江苏长电科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/56;H01L23/495;H01L23/31 |
代理公司: | 江阴市同盛专利事务所(普通合伙) 32210 | 代理人: | 唐纫兰;曾丹 |
地址: | 214434 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 先蚀后封 芯片 倒装 三维 系统 金属 线路板 结构 工艺 方法 | ||
1.一种先蚀后封芯片倒装三维系统级金属线路板的工艺方法,所述方法包括如下步骤:
步骤一、取金属基板
步骤二、金属基板表面预镀微铜层
步骤三、贴光阻膜作业
在完成预镀微铜层的金属基板正面及背面分别贴上可进行曝光显影的光阻膜;
步骤四、金属基板背面去除部分光阻膜
利用曝光显影设备将步骤三完成贴光阻膜作业的金属基板背面进行图形曝光、显影与去除部分图形光阻膜,以露出金属基板背面后续需要进行电镀的区域图形;
步骤五、电镀金属线路层
在步骤四中金属基板背面去除部分光阻膜的区域内电镀上金属线路层;
步骤六、贴光阻膜作业
在步骤五中金属基板背面贴上可进行曝光显影的光阻膜;
步骤七、金属基板背面去除部分光阻膜
利用曝光显影设备将步骤六完成贴光阻膜作业的金属基板背面进行图形曝光、显影与去除部分图形光阻膜,以露出金属基板背面后续需要进行电镀的区域图形;
步骤八、电镀高导电金属线路层
在步骤七中金属基板背面去除部分光阻膜的区域内电镀上高导电金属线路层;
步骤九、去除光阻膜
去除金属基板表面的光阻膜;
步骤十、环氧树脂塑封
在金属基板背面的金属线路层表面利用环氧树脂材料进行塑封保护;
步骤十一、环氧树脂表面研磨
在完成环氧树脂塑封后进行环氧树脂表面研磨;
步骤十二、贴光阻膜作业
在完成步骤十一的金属基板正面和背面贴上可进行曝光显影的光阻膜;
步骤十三、金属基板正面去除部分光阻膜
利用曝光显影设备将步骤十二完成贴光阻膜作业的金属基板正面进行图形曝光、显影与去除部分图形光阻膜,以露出金属基板正面后续需要进行蚀刻的区域图形;
步骤十四、化学蚀刻
将步骤十三中金属基板正面完成曝光显影的区域进行化学蚀刻;
步骤十五、贴光阻膜作业
在完成步骤十四的金属基板正面和背面贴上可进行曝光显影的光阻膜;
步骤十六、金属基板正面去除部分光阻膜
利用曝光显影设备将步骤十五完成贴光阻膜作业的金属基板正面进行图形曝光、显影与去除部分图形光阻膜,以露出金属基板正面后续需要进行电镀的区域图形;
步骤十七、电镀金属柱子
在步骤十六中金属基板正面去除部分光阻膜的区域内电镀上金属柱子;
步骤十八、去除光阻膜
去除金属基板表面的光阻膜;
步骤十九、装片
在完成步骤十八的基岛和引脚上通过底部填充胶倒装芯片;
步骤二十、包封
将步骤十九中的金属基板正面采用塑封料进行塑封;
步骤二十一、环氧树脂表面研磨
在完成步骤二十的环氧树脂塑封后进行环氧树脂表面研磨;
步骤二十二、电镀抗氧化金属层或被覆抗氧化剂
在完成步骤二十一后的金属基板表面裸露在外的金属进行电镀抗氧化金属层或被覆抗氧化剂。
2.一种由权利要求1制成的先蚀后封芯片倒装三维系统级金属线路板结构,其特征在于它包括金属基板框(1),在所述金属基板框(1)内设置有基岛(2)和引脚(3),在所述基岛(2)和引脚(3)的正面或背面通过底部填充胶(4)倒装有芯片(5),在所述引脚(3)正面或背面设置有导电柱子(7),所述基岛(2)外围的区域、基岛(2)和引脚(3)之间的区域、引脚(3)与引脚(3)之间的区域、基岛(2)和引脚(3)上部的区域、基岛(2)和引脚(3)下部的区域以及芯片(5)和导电柱子(7)外均包封有塑封料(8),所述塑封料(8)与导电柱子(7)的顶部齐平,在所述金属基板框(1)、引脚(3)和导电柱子(7)露出塑封料(8)的表面镀有抗氧化层或被覆抗氧化剂(9)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏长电科技股份有限公司,未经江苏长电科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310340428.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造