[发明专利]多节宽光谱LED的结构设计与制作方法有效
申请号: | 201310332338.2 | 申请日: | 2013-08-01 |
公开(公告)号: | CN103560188A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 黄小辉;陈大旭;周德保;杨东;郑远志;陈向东;康建;梁旭东 | 申请(专利权)人: | 圆融光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/08 | 分类号: | H01L33/08;H01L33/06;H01L33/02;H01L33/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 黄健 |
地址: | 243000 安徽省马鞍山*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多节宽 光谱 led 结构设计 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种III-V族半导体发光二极管的生长方法,具体涉及一种多节且宽光谱的发光二极管(LED)的结构设计与制作方法。
背景技术
III-V族半导体材料,在发光照明、太阳电池及大功率器件等领域得到了广泛的应用,尤其以GaN(氮化镓)系列为代表的宽禁带半导体材料,是继Si和GaAs之后的第三代半导体材料,受到了科研界及产业界的广泛关注。并且GaN目前是作为蓝绿光发光二极管的最主要的材料,在产业界全面推行,并不断抢占传统照明市场。
但是,用GaN生长出来的LED,存在本身的一些待解决的缺陷。1、由于目前还不能得到商用的高质量大块GaN晶体,一般用异质衬底来外延,而GaN和蓝宝石衬底(或Si衬底)之间有较大的晶格失配度,导致外延层产生位错,这种位错会扩展并穿过有源层,限制了GaN器件性能的提高,有源层的缺陷过多限制了空穴的注入;2、此外,由于空穴本身存在迁移率低,扩散长度短等缺点,空穴只能迁移至最接近P型GaN层的两三个量子阱中形成辐射复合。传统多量子阱中,大部分的阱不发光,造成量子阱利用率非常低;3、因发光主要集中在最后两三个量子阱中,故传统结构的LED发光波长比较单一,光谱单一,无法做出全彩光以及白光。
综上所述,传统的生长量子阱的方法都或多或少地存在以下问题:(1)有缘区位错密度高,空穴注入之后易与这些位错形成非辐射复合;(2)P型层提供的空穴不足以迁移至前面的量子阱中,量子阱的利用率相对比较低,极大地限制了发光效率的提高;(3)发光光谱单一。
发明内容
本发明提供了一种多节宽光谱LED结构设计与制作方法:(1)在衬底上预通入金属源及V族反应物,通过高温分解,在所述衬底上形成一层缓冲层;(2)提高生长温度,在所述缓冲层上生长非掺杂的GaN层,并在所述非掺杂的GaN层上生长一层N型GaN层;(3)将温度调至适合生长量子阱的温度,在所述N型GaN层上生长GaN/InGaN多周期量子阱结构,每周期所述GaN/InGaN的厚度为5~30nm;其中,每个所述量子阱的阱宽为2~5nm,垒宽为5~25nm,周期数为1~50;(4)在所述GaN/InGaN多周期量子阱结构上生长一层P型GaN,所述P型GaN的厚度为0~30nm,掺杂浓度为1x1017~1x1020cm-3;(5)重复(3)和(4),以形成多个[GaN/InGaN多周期量子阱+P型GaN层]组合的多节发光二极管LED结构;其中,最后一层的所述P型GaN层的厚度为50~500nm,掺杂浓度为1x1017~1x1020cm-3。
本发明的目的在于克服传统LED结构的缺陷,利用多节LED的结构解决空穴注入效率过低,且量子阱利用率较低的问题,改善空穴注入量子阱的方法及数量,提高量子阱的利用率,从而进一步提高LED的发光效率。
本发明的另一目的是利用多节的LED结构设计,形成各种发光波段的量子阱串联。根据需求,每一节量子阱的发光波段可以不尽相同,从而形成宽光谱的LED。
附图说明
图1为本发明提供的多节宽光谱LED结构设计与制作方法一个实施例的流程图;
图2为本发明提供的多节宽光谱LED结构的示意图。
具体实施方式
图1为本发明提供的多节宽光谱LED结构设计与制作方法一个实施例的流程图,如图1所示,该方法包括:
(1)在衬底上预通入金属源及V族反应物,通过高温分解,在衬底上形成一层缓冲层;
当衬底材料的表面温度升高到530℃左右时,通入金属源和氨气(NH3)反应3-5分钟,金属源和NH3在此温度下分解并发生化学反应,形成无定型的缓冲生长层。所述金属源反应物及缓冲层具有下列特性:①能够在高温时分解成金属原子;②金属原子能够和N原子发生反应,形成如图所示的无定型的GaN缓冲层;③缓冲层的厚度可以为0~100nm。
(2)提高生长温度,在缓冲层上生长非掺杂的GaN层,并在非掺杂的GaN层上生长一层N型GaN层;
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