[发明专利]具有频率测试功能存储器测试设备及存储器测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及存储器测试技术领域，尤其涉及一种具有频率测试功能的存储器测试设备及存储器频率测试方法。

背景技术

随着集成电路的集成度越来越高，器件间的距离变得越来越紧凑，而存储器容易受干扰而形成故障，因此，为保证集成电路生产制造的品质，需要在对存储器功能进行严格的测试和检验。现有的存储器测试，是由专门的测试设备，如半导体自动化测试系统（ATE），针对被测存储器芯片进行选址后，通过输入输出管脚上的电平信号，读写数据到测试设备内部的比较器，对比预期值和实测逻辑值获得PASS/FAIL的结果的测试过程。由于该特性，使得这类测试设备并不具备频率测试功能。如果遇到存储器测试中部分频率测试需求，必须使用额外的逻辑测试系统来进行频率测试的第二道测试工序，无疑会大幅增加测试成本和测试工艺复杂程度。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种能够具有频率测试功能的存储器测试设备以及在不增加外部测试电路的条件下，基于该存储器测试设备的频率测试方法。

本发明是通过以下技术方案实现的：

一种具有频率测试功能的存储器测试设备，其包括：

信号采集模块，以预定频率对被测信号进行持续采集，以获取多个所述被测信号的取样信号；

模数转换模块，将所述多个取样信号转换为多个数字信号，所述数字信号为第一数字信号或第二数字信号；

存储模块，按顺序存储所述多个数字信号；

计数模块，从初始数字信号开始对所存储的数字信号进行计数，所述初始数字信号为所获取的第一个取样信号所转换的数字信号；以及

频率计算模块，根据第n次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值以及第n+2次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值，以及所述预定频率，获取所述被测信号的周期，并根据所述被测信号的周期得到所述被测信号的频率；其中所述数字信号变化为从所述第一数字信号转换为所述第二数字信号或从所述第二数字信号转换为所述第一数字信号，n为大于等于1的正整数。

优选的，所述频率计算模块包括比较子模块，所述比较子模块依次比较所述数字信号与其前一个数字信号，以获取所述数字信号变化时变化的数字信号。

优选的，所述频率计算模块包括比较子模块，所述比较子模块依次比较所述数字信号与参考信号，以获取第k次所述数字信号变化时变化的数字信号，k为大于等于1且小于等于n+2的正整数；其中当k为大于1时，所述参考信号为第k次数字信号变化时变化的数字信号；当k为1时，所述参考信号为所述初始数字信号。

优选的，所述频率计算模块获取多个所述被测信号的周期取其平均值为标准周期，并根据所述标准周期得到被测信号的标准频率。

优选的，当所述取样信号的输出电压大于等于阈值电压时，所述模数转换模块将所述取样信号转换为所述第一数字信号；当所述输出电压小于所述阈值电压时，所述模数转换模块将所述取样信号转换为所述第二数字信号，所述阈值电压为所述输出电压最大值的一半。

优选的，根据所述被测信号频率的估算值设定所述预定频率。

优选的，所述预定频率大于等于所述被测信号频率的估算值的10倍。

进一步的，本发明还提供了一种存储器频率测试方法，包括以下步骤：

以预定频率对所述存储器的被测信号进行持续采集，以获取多个所述被测信号的取样信号；

将所述多个取样信号转换为多个数字信号，所述数字信号为第一数字信号或第二数字信号；

按顺序存储所述多个数字信号；

从初始数字信号开始对所存储的数字信号进行计数，所述初始数字信号为所获取的第一个取样信号所转换的数字信号；

根据第n次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值以及第n+2次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值，以及所述预定频率，获取所述被测信号的周期，并根据所述被测信号的周期得到所述被测信号的频率；其中所述数字信号变化为从所述第一数字信号转换为所述第二数字信号或从所述第二数字信号转换为所述第一数字信号，n为大于等于1的正整数。

优选的，通过依次比较所述数字信号与其前一个数字信号，以获取所述数字信号变化时变化的数字信号。

优选的，通过依次比较所述数字信号与参考信号，以获取第k次所述数字信号变化时变化的数字信号，k为大于等于1且小于等于n+2的正整数；其中当k为大于1时，所述参考信号为第k次数字信号变化时变化的数字信号；当k为1时，所述参考信号为所述初始数字信号。