[发明专利]具有频率测试功能存储器测试设备及存储器测试方法

权利要求书

1.一种具有频率测试功能的存储器测试设备，其特征在于，包括：

信号采集模块，以预定频率对被测信号进行持续采集，以获取多个所述被测信号的取样信号；

模数转换模块，将所述多个取样信号转换为多个数字信号，所述数字信号为第一数字信号或第二数字信号；

存储模块，按顺序存储所述多个数字信号；

计数模块，从初始数字信号开始对所存储的数字信号进行计数，所述初始数字信号为所获取的第一个取样信号所转换的数字信号；以及

频率计算模块，根据第n次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值、第n+2次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值，以及所述预定频率，获取所述被测信号的周期，并根据所述被测信号的周期得到所述被测信号的频率；其中所述数字信号变化为从所述第一数字信号转换为所述第二数字信号或从所述第二数字信号转换为所述第一数字信号，n为大于等于1的正整数。

2.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其特征在于，所述频率计算模块包括比较子模块，所述比较子模块依次比较所述数字信号与其前一个数字信号，以获取所述数字信号变化时变化的数字信号。

3.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其特征在于，所述频率计算模块包括比较子模块，所述比较子模块依次比较所述数字信号与参考信号，以获取第k次所述数字信号变化时变化的数字信号，k为大于等于1且小于等于n+2的正整数；其中当k为大于1时，所述参考信号为第k次数字信号变化时变化的数字信号；当k为1时，所述参考信号为所述初始数字信号。

4.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其特征在于，所述频率计算模块获取多个所述被测信号的周期取其平均值为标准周期，并根据所述标准周期得到被测信号的标准频率。

5.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其特征在于，当所述取样信号的输出电压大于等于阈值电压时，所述模数转换模块将所述取样信号转换为所述第一数字信号；当所述输出电压小于所述阈值电压时，所述模数转换模块将所述取样信号转换为所述第二数字信号，所述阈值电压为所述输出电压最大值的一半。

6.根据权利要求1所述的存储器测试设备，其特征在于，根据所述被测信号频率的估算值设定所述预定频率。

7.根据权利要求6所述的存储器测试设备，其特征在于，所述预定频率大于等于所述被测信号频率的估算值的10倍。

8.一种存储器频率测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

以预定频率对所述存储器的被测信号进行持续采集，以获取多个所述被测信号的取样信号；

将所述多个取样信号转换为多个数字信号，所述数字信号为第一数字信号或第二数字信号；

按顺序存储所述多个数字信号；

从初始数字信号开始对所存储的数字信号进行计数，所述初始数字信号为所获取的第一个取样信号所转换的数字信号；

根据第n次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值以及第n+2次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值，以及所述预定频率，获取所述被测信号的周期，并根据所述被测信号的周期得到所述被测信号的频率；其中所述数字信号变化为从所述第一数字信号转换为所述第二数字信号或从所述第二数字信号转换为所述第一数字信号，n为大于等于1的正整数。

9.根据权利要求8所述的存储器频率测试方法，其特征在于，通过依次比较所述数字信号与其前一个数字信号，以获取所述数字信号变化时变化的数字信号。

10.根据权利要求8所述的存储器频率测试方法，其特征在于，通过依次比较所述数字信号与参考信号，以获取第k次所述数字信号变化时变化的数字信号，k为大于等于1且小于等于n+2的正整数；其中当k为大于1时，所述参考信号为第k次数字信号变化时变化的数字信号；当k为1时，所述参考信号为所述初始数字信号。

11.根据权利要求8所述的存储器频率测试方法，其特征在于，获取多个所述被测信号的周期取其平均值为标准周期，并根据所述标准周期得到被测信号的标准频率。