[发明专利]一种利用电阻相对变化探测土体裂隙深度和长度的方法无效

专利信息
申请号: 201310185559.1 申请日: 2013-05-16
公开(公告)号: CN103257159A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 陈亮;王涛;卢亮;付长静;高为壮;夏兵兵;丁小闯 申请(专利权)人: 河海大学
主分类号: G01N27/04 分类号: G01N27/04
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 虞希光
地址: 211100 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 电阻 相对 变化 探测 裂隙 深度 长度 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及的是岩土体裂隙深度和长度的探测方法,属于岩土工程参数探测方法及探测装置技术领域。

背景技术

土体内部裂隙的定量化研究,在研究早期一般是采用解析的方法,采用工程力学(如弹性理论、断裂力学等)来解决膨胀土裂隙的分布、深度、开度和延伸度,以及裂隙及其周围土体的强度和变形特性。但土体内部裂隙的发育情况与表面裂隙的发育并不是一一对应的,解析法必然包含不少假定和简化,结果的精度还难以验证。采用破碎土体研究土体裂隙深度的方法破坏了土体内部结构,且精度达不到要求,土体一旦破碎无法进行后续的试验。

近年来,兴起了一种利用电阻率探测土体裂隙深度的方法,但是也有其局限性,在电极尺寸效应土体尺寸的情况下,由于电流路径与截面都不直观,所以无法直接计算出土体的对应电阻率。

发明内容

本发明针对现有技术的不足,提出一种利用电阻相对变化测量土体裂隙深度和长度的探测方法。此方法操作简单,测试时间短,测量结果准确性较高。   

为解决以上技术问题,本发明采取以下技术方案:

一种利用电阻相对变化探测土体裂隙深度和长度的方法,包括如下步骤:

(1)、定义对数电阻比LRR=ln(R/R0):选取无裂隙发育土体的电阻测值作为基准(R0),将裂隙发育下的电阻测值(R)与基准电阻进行比较;

(2)、定义裂隙深度比:裂隙发育深度度与测量电极距离之比;

(3)、定义水平裂隙长度比:裂隙发育长度与测量电极距离之比;

(4)、室内测定,在裂隙两侧设置成对垂直电极,通以恒定的交流电流,测出两电极间电压,计算电阻,换算成对数电阻比;

(5)、建立对数电阻比与裂隙深度比的关系曲线;

(6)、建立对数电阻比与水平裂隙长度比的关系曲线;

(7)、现场测定,同室内试验方法一样布置电极,通交流电流,测出电压,计算电阻,换算成对数电阻比;

(8)、根据室内预先测定的对数电阻比与裂隙深度比关系曲线的特性得出土体裂隙深度发育情况;

(9)、根据室内预先测定的对数电阻比与水平裂隙长度比关系曲线的特性得出土体裂隙长度发育情况。

本发明的有益效果是避开了直接计算土体的电阻率。

在利用电阻率探测土体裂隙深度的方法中,需要直接计算出土体的对应电阻率,可是在电极尺寸效应土体尺寸的情况下,由于电流路径与截面都不直观,无法准确计算出土体的对应电阻率。

附图说明

图1:本发明实施步骤流程图。

图2:对数电阻比与裂隙深度比关系曲线图。

图3:对数电阻比与水平裂隙长度比关系曲线图。

具体实施方式

以下将结合附图详细地说明本发明的技术方案。

如图1为本发明具体实施步骤流程图,本发明所述的利用电阻相对变化探测土体裂隙深度和长度的方法,包括以下步骤: 

1、定义对数电阻比、裂隙深度比和水平裂隙长度比。(1)、选取无裂隙发育土体的电阻测值作为基准(R0),将裂隙发育下的电阻测值(R)与基准电阻进行比较,定义对数电阻比为LRR=ln(R/R0);(2)、裂隙深度比定义为裂隙发育深度与测量电极距离之比;(3)、水平裂隙长度比定义为裂隙水平发育长度与测量电极距离之比。

2、通过室内试验测定对数电阻比与裂隙深度比和对数电阻比与水平裂隙长度比的关系曲线。包括如下步骤:(1)、在裂隙两侧布置成对垂直电极;(2)、通过电极向土体输入恒流的交流电流,测量出两电极间的电压U;(3)、计算测量电阻                                               和对数电阻比LRR=ln(R/R0);(4)、得出对数电阻比与深度裂隙比关系曲线和对数电阻比与水平裂隙长度比关系曲线。

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