[发明专利]一种利用电阻相对变化探测土体裂隙深度和长度的方法无效

专利信息
申请号: 201310185559.1 申请日: 2013-05-16
公开(公告)号: CN103257159A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 陈亮;王涛;卢亮;付长静;高为壮;夏兵兵;丁小闯 申请(专利权)人: 河海大学
主分类号: G01N27/04 分类号: G01N27/04
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 虞希光
地址: 211100 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 电阻 相对 变化 探测 裂隙 深度 长度 方法
【权利要求书】:

1.一种利用电阻相对变化探测土体裂隙深度和长度的方法,其特征在于包括如下步骤:

(1)、定义对数电阻比LRR=ln(R/R0):选取无裂隙发育土体的电阻测值作为基准(R0),将裂隙发育下的电阻测值(R)与基准电阻进行比较;

(2)、定义裂隙深度比:裂隙发育深度与测量电极距离之比;

(3)、定义水平裂隙长度比:裂隙发育长度与测量电极距离之比;

(4)、室内测定,在裂隙两侧设置成对垂直电极,通以恒定的交流电流,测出两电极间电压,计算电阻,换算成对数电阻比;

(5)、建立对数电阻比与裂隙深度比的关系曲线;

(6)、建立对数电阻比与水平裂隙长度比的关系曲线;

(7)、现场测定,同室内试验方法一样布置电极,通交流电流,测出电压,计算电阻,换算成对数电阻比;

(8)、根据室内预先测定的对数电阻比与裂隙深度比关系曲线的特性得出土体裂隙深度发育情况;

(9)、根据室内预先测定的对数电阻比与水平裂隙长度比关系曲线的特性得出土体裂隙长度发育情况。

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