[发明专利]一种高频频率器件自动测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及高频频率器件测试技术领域，尤其涉及一种高频频率器件自动测试装置及测试方法。

背景技术

高频频率器件在生产过程中，需要花费大量的时间对其进行高低温环境试验，并且需要实时采集高频频率器件的频率数据。在传统生产工艺中，一般采用人工测试的方法来完成高低温试验数据的采集，过程分为：接通产品电源，设置温箱温度，等待恒温，接通频率计，逐个切换频率器件，测试高频频率器件的输出频率并记录，整个过程极为繁琐，不仅费工、费时，而且效率低下。其中，在切换频率器件的过程中，一般选用电子开关作为通断开关，但是电子开关只能对50MHz以下进行采样测试，且频率失真度大，隔离度差，难以对高频频率器件进行测试，导致测试结果的准确性差。

因此，现有的频率器件测试方法不仅难以对高频频率器件进行测试，而且存在费工费时、效率低下、准确性差的缺陷。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，提供一种高频频率器件自动测试装置及测试方法，并通过该测试装置及测试方法而实现对高频频率器件的自动化测试，其具有省时、省力、效率较高和准确性好的优势。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案。

一种高频频率器件自动测试装置，其包括有一计算机、一通信控制盒、一频率计及一高低温箱，其中，所述通信控制盒包括有一核心CPU，所述核心CPU与计算机交互通讯；所述高低温箱上设有一高低温控制单元，所述高低温控制单元与核心CPU交互通讯，其用于执行核心CPU的控制指令而调节高低温箱的温度，以及采集高低温箱内的温度并将该温度以电信号的形式发送至核心CPU；所述高低温箱内设有多个选位测试单元，所述选位测试单元包括有多组测试工位，每组测试工位包括有一138译码器、多个高频继电器和多个器件座，所述核心CPU将选位指令发送至138译码器的选位端，138译码器的多个输出端分别连接于多个高频继电器的控制端，多个器件座的输出端分别连接于多个高频继电器的输入端，多个高频继电器的输出端相互连接后再连接至频率计的输入端，频率计将测试结果以电信号的形式发送至核心CPU，所述核心CPU将测试结果返回至计算机。

优选地，所述测试装置还包括有一直流电源，所述直流电源输出直流电压为器件座供电，该直流电压是0V～30V连续可调电压，所述直流电源还输出5V直流电压为通信控制盒及选位测试单元供电。

优选地，所述高低温箱内设有4个选位测试单元，每个选位测试单元内设有3组测试工位，每组测试工位包括有8个高频继电器和8个器件座。

优选地，所述核心CPU通过一第一232接口而连接至计算机。

优选地，所述高低温控制单元通过一第二232接口而连接至核心CPU。

优选地，所述频率计通过一第三232接口而连接至核心CPU。

优选地，所述选位测试单元通过DB25并口而连接至核心CPU。

优选地，所述核心CPU是8位AVR单片机，其芯片型号是Atmega8515。

一种基于上述测试装置的测试方法，其包括如下步骤：步骤S100，计算机将测试温度点发送至核心CPU；步骤S101，核心CPU根据测试温度点向高低温控制单元发送温度点设置命令；步骤S102，高低温控制单元采集高低温箱内的温度，并将该温度值实时地发送至核心CPU，直至该温度达到温度点；步骤S103，高低温控制单元控制高低温箱开始恒温，核心CPU开始计时；步骤S104，计时完成后，核心CPU向选位测试单元发送选位指令，以令多个器件座上多个高频频率器件之一的频率信号输出至频率计；步骤S105，核心CPU将频率计的测试结果发送至计算机，并由计算机保存至数据库；步骤S106，重复步骤S104至步骤S105，直至选位测试单元内的多个高频频率器件全部测试完成；步骤S107，计算机将下一测试温度点发送至核心CPU，之后重复步骤S102至步骤S106，直至所有温度点下的高频频率器件全部测试完成；步骤S108，高频频率器件测试工作结束。

优选地，所述步骤S103中，核心CPU的计时时间为15分钟。