[发明专利]利用电磁测量技术去除背景噪声的方法

说明书

技术领域：

本发明属于电磁环境检测技术领域，具体涉及一种利用电磁测量技术去除背景噪声的方法。

背景技术：

测量电磁辐射，一般使用测量接收机或经过定标的频谱分析仪。这些都是选频设备，例如在测量某一大型电磁辐射源附近的电磁环境，在某一频率测量时，背景噪声中的同频信号对测量结果的准确性影响很大。这种背景噪声干扰与被测设备电磁辐射的频率相同，测量接收机或频谱分析仪是无法识别和区分到底哪个是背景噪声，哪个是被测设备的电磁辐射。因此，利用测量接收机或者频谱分析仪所测出的结果都是被测辐射源的电磁辐射与背景噪声的综合场强，无法准确的测出被测辐射源的电磁辐射场强。

目前，国内许多地方在作高压输电线路电磁辐射环境影响评价时，都发现有由于周边背景电磁噪声的影响，测量结果超过国家标准的现象。在这种情况下，利用现有的测量设备和技术就无法确定被测高压输电线路对电磁辐射环境的影响，给电磁辐射环境影响的评价和管理带来很大的困难。

发明内容：

综上所述，为了克服现有技术问题的不足，本发明提供了一种利用电磁测量技术去除背景噪声的方法，它是通过三套相同的检测设备，沿辐射源的同一方向，同步对不同的检测点的电磁辐射场强进行检测，测量电磁辐射场强与噪声场强的综合场强，然后通过计算，得出噪声场强，最后得到消除噪声后的电磁辐射场强，从而使测量结果准确，保证电磁辐射环境评价的准确可靠。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是这样实现的：

一种利用电磁测量技术去除背景噪声的方法，其中：它包括以下工艺步骤：

第一步：设定背景噪声是随机的，与被测信号不相关；且噪声源距离测量区域很远，噪声在测量区域中各点的电场强度近似是均匀的；

第二步：在测量区域中，沿被测辐射源的某一方向设置3个测试点P₁、P₂、P₃；

第三步：配置三套相同的测量设备，每套测量设备包括相应频段的测量接收机或经过定标的频谱分析仪、相应频段的接收天线和相同的电缆；

第四步：利用三套相同的测量设备，同步测量P₁、P₂、P₃三个测试点的被测辐射场强与背景噪声场强叠加的综合场强E₁、E₂、E₃，测量P₁、P₂、P₃三个测试点与被测辐射源之间的距离R₁、R₂、R₃；

第五步：设定被测信号在测试点的场强为E_Si，其中：i为测试点，则P₁、P₂、P₃三个测试点的被测辐射场强分别为E_S1、E_S2、E_S3，设定P₁、P₂、P₃三个测试点的背景噪声场强为E_N；则：