[发明专利]利用电磁测量技术去除背景噪声的方法有效

专利信息
申请号: 201310071208.8 申请日: 2013-03-06
公开(公告)号: CN103207322A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 邹澎;马力;刘平;周晓平 申请(专利权)人: 郑州大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 郑州红元帅专利代理事务所(普通合伙) 41117 代理人: 徐皂兰
地址: 450052 *** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 利用 电磁 测量 技术 去除 背景 噪声 方法
【权利要求书】:

1.一种利用电磁测量技术去除背景噪声的方法,其特征在于:它包括以下工艺步骤:

第一步:设定背景噪声是随机的,与被测信号不相关;且噪声源距离测量区域很远,噪声在测量区域中各点的电场强度近似是均匀的;

第二步:在测量区域中,沿被测辐射源的某一方向设置3个测试点P1、P2、P3; 

第三步:配置三套相同的测量设备,每套测量设备包括相应频段的测量接收机或经过定标的频谱分析仪、相应频段的接收天线和相同的电缆;

第四步:利用三套相同的测量设备,同步测量P1、P2、P3三个测试点的被测辐射场强与背景噪声场强叠加的综合场强E1、E2、E,测量P1、P2、P3三个测试点与被测辐射源之间的距离R1、R2、R3

第五步:设定被测信号在测试点的场强为E Si,其中:i为测试点,则P1、P2、P3三个测试点的被测辐射场强分别为E S1、E S2、E S3,设定P1、P2、P3三个测试点的背景噪声场强为E;则:

 第六步:由公式                            (2)

公式中:    K——是由辐射源的参数确定的场强系数;

              m——为电磁辐射场强衰减指数;

              E Si——为被测信号在测试点的场强;

              Ri——为测试点与被测辐射源之间的距离;

 将公式(2)代入公式(1)得出: 

 由公式(3)可推导出:

 由上式可求出m及EN,将EN代入公式(1)可求出E S1、E S2、E S3

第七步:存储测量数据、利用计算机处理测量数据、输出测量结果,包括E S1、E S2、E S3,背景噪声场强EN和电磁辐射场强衰减指数m。

2.根据权利要求1所述的利用电磁测量技术去除背景噪声的方法,其特征在于:第二步中,如果被测辐射源为点辐射源,则沿以点辐射源为中心的某一射线方向上设置三个测试点;如果被测辐射源为是线辐射源,则沿垂直于线辐射源的方向设置三个测试点。

3.根据权利要求1所述的利用电磁测量技术去除背景噪声的方法,其特征在于:第三步中,接收机及天线要经过校准,在测试频率要有准确的校准数据;在测试频率测量出电缆的衰减值。

4.根据权利要求1所述的利用电磁测量技术去除背景噪声的方法,其特征在于:第四步中,检测的P1、P2、P3三个测试点的综合场强E1、E2、E3为计入了接收机、天线的校准系数、电缆的损耗和三套设备之间的测量误差后的测量值。

5.根据权利要求1所述的利用电磁测量技术去除背景噪声的方法,其特征在于:第四步中,为了使三套测量设备在测试点P1、P2、P3处同步测量辐射场强,通过GP-IB接口和IEEE-488总线把三套测量设备连接成一个测量系统,由计算机控制三套设备的同步测量。

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