[发明专利]调试电路及具有该调试电路的主板

说明书

技术领域

本发明涉及一种调试电路及具有该调试电路的主板。

背景技术

在主板的设计阶段，需要调整主板上一些芯片中控制信号输入端的电信号值或芯片内部寄存器内数据以达到控制芯片输出信号的电压强弱、跳变时间的快慢等参数的目的。通常，业界采用选择性地将待测的芯片的多个控制控制信号输入端中的部分或全部控制信号输入端焊接电阻，再将电阻上拉至电源或下拉至“地”（Ground）。然后观测待测芯片的输出信号是否符合当前需求。当待测芯片的输出信号不符合当前要求时，通常，需要熔融电阻以便调整焊接电阻的连接位置或在电路板上重新插入所需的上拉或下拉电阻。如此以来，每次在电路板上焊接电阻或者重新插入所需的上拉或者下拉电阻都会造成时间的浪费，调试效率较低。

发明内容

因此，有必要提供一种调试效率较高的调试电路。

也有必要提供一种具有该调试电路的主板。

一种调试电路，用于调整一待测芯片输入的控制信号至一预期数值，该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及至少一信号输出端，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。

一种主板，该主板包括至少一待测芯片，该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及信号输出端，该主板还包括一调试电路，用于调整该待测芯片输入端的控制信号至一预期数值，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。

与现有技术相较，本发明调试电路及包括该调试电路的主板将待测芯片中的每个控制信号输入端均与电阻单元中的相应电阻相连，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端。通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位，进而改变该待测芯片的输出信号的大小。实施本发明，不需要调整焊接电阻的连接位置或在主板上重新插入上拉电阻或下拉电阻，从而达到了提高调试效率的技术效果。

附图说明

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

图1为本发明调试电路用于检测待测芯片一较佳实施方式的示意图。

主要元件符号说明