[发明专利]调试电路及具有该调试电路的主板

权利要求书

1.一种调试电路，用于调整一待测芯片输入的控制信号至一预期数值，该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及至少一信号输出端，其特征在于，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。

2.如权利要求1所述的调试电路，其特征在于，该调整单元包括开关单元、第一检测电源及第二检测电源，该第一检测电源及该第二检测电源用于提供改变该控制端的电位所需的电压，该开关单元用于选择与该第一检测电源还是第二检测电源电连接，以改变输出至该多个控制端的电压值。

3.如权利要求2所述的调试电路，其特征在于，该开关单元包括与该控制端等数目的多个双端切换开关，该双端切换开关包括第一端、第二端及第三端，每个双端切换开关的第一端分别经由一控制端及一电阻连接至相应的控制信号输入端，每个双端切换开关的第二端连接该第一检测电源，每个双端切换开关的第三端连接该第二检测电源，该双端切换开关通过该第一端连接该第二端或该第一端连接该第三端以控制该第一检测电源及该第二检测电源提供给每个控制端的电通路的断开与连接。

4.如权利要求2所述的调试电路，其特征在于，该第一检测电源的电压值为5V，该第二检测电源提供一接地信号。

5.如权利要求2所述的调试电路，其特征在于，每一双开关单元由一串联的NMOS开关管及PMOS开关管构成，其中，一开关管的漏极接该第一检测电源，源极与另一开关管的漏极相连，且作为该开关单元的一控制端与相应的一电阻相连，另一开关管的源极接该第二检测电源，二开关管的栅极用于接收一开关控制信号。

6.如权利要求1所述的调试电路，其特征在于，该调试电路还包括判断单元，该判断单元连接该信号输出端，用于读取该待测芯片的输出信号，并将读取到的输出信号的参数与该判断单元内预存的标准信号的参数进行比较，当该输出信号的参数与该预存的标准信号的参数相同或者差异在一预定范围内时，则该判断单元认为该输出信号与该预存的标准信号相同。

7.一种主板，该主板包括至少一待测芯片，该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及信号输出端，其特征在于，该主板还包括一调试电路，用于调整该待测芯片输入端的控制信号至一预期数值，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。

8.如权利要求7所述的主板，其特征在于，该调整单元包括开关单元、第一检测电源及第二检测电源，该第一检测电源及该第二检测电源用于提供改变该控制端的电位所需的电压，该开关单元用于选择与该第一检测电源还是第二检测电源电连接，以改变输出至该多个控制端的电压值。

9.如权利要求8所述的主板，其特征在于，该开关单元包括与该控制端等数目的多个双端切换开关，该双端切换开关包括第一端、第二端及第三端，每个双端切换开关的第一端分别经由一控制端及一电阻连接至相应的控制信号输入端，每个双端切换开关的第二端连接该第一检测电源，每个双端切换开关的第三端连接该第二检测电源，该双端切换开关通过该第一端连接该第二端或该第一端连接该第三端以控制该第一检测电源及该第二检测电源提供给每个控制端的电通路的断开与连接。

10.如权利要求8所述的主板，其特征在于，该第一检测电源的电压为5V，该第二检测电源提供一接地信号。

11.如权利要求8所述的主板，其特征在于，每一双开关单元由一串联的NMOS开关管及PMOS开关管构成，其中，一开关管的漏极接该第一检测电源，源极与另一开关管的漏极相连，且作为该开关单元的一控制端与相应的一电阻相连，另一开关管的源极接该第二检测电源，二开关管的栅极用于接收一开关控制信号。

12.如权利要求1所述的主板，其特征在于，该调试电路还包括判断单元，该判断单元连接该信号输出端，用于读取该待测芯片的输出信号，并将读取到的输出信号的参数与该判断单元内预存的标准信号的参数进行比较，当该输出信号的参数与该预存的标准信号的参数相同或者差异在一预定范围内时，则该判断单元认为该输出信号与该预存的标准信号相同。