[发明专利]微处理器及其所适用的测试方法

说明书

本申请为申请日为2010年7月30日、申请号为201010243791.2的发明名称为“微处理器及其所适用的测试方法”的申请案的分案申请。

技术领域

本发明主要涉及微处理器的技术领域，特别是关于微处理器中的保险丝使用技术。

背景技术

当代的微处理器中所包含的保险丝是可于微处理器的制造过程中被选择性地烧熔，且保险丝可根据读取自其中的控制值而被选择性地烧熔以控制微处理器的运作。通常而言，当非熔断保险丝被读取时会回传二进制0（binary zero），而当熔断保险丝被读取时则会回传二进制1（binary one）（或者可反向设定）。然而，本发明的发明人观察到该领域的微处理器所具有的熔断保险丝却会改变其值，也就是说，熔断保险丝会不正确地回传二进制0，即便其于微处理器的测试阶段中会正确地回传二进制1，这种情况被称为保险丝重长（re-growing）或保险丝再生长（re-growth），意即熔断保险丝在微处理器的持续运作过程中可被实质地改变，使其于被读取时回传非熔断值而不是回传熔断值。保险丝再生长则视其值会对微处理器的后续运作造成灾难性的结果，此外，由保险丝再生长所引起的问题亦很难在失败分析中被侦测出来。

美国专利申请案12/609,207叙述针对此问题提出一种使用了错误侦测与修正（Error DetectionAnd Correction，EDAC）的保险丝的解决方案，此解决方案中的保险丝是可修正的，也就是大部分的保险丝是设置于由微码所写入的控制硬件中，具体而言，该微码从保险丝读取数值、在需要时使用错误侦测与修正的保险丝去修改该数值、然后将修正后的数值写入硬件（例如：特定模块缓存器(Model Specific Register，MSR)、特征控制缓存器(Feature Control Register，FCR)、修补硬件(patch hardware)等）。然而，仍有些保险丝是无法由微码所修正的，意即，当芯片启动时，不可修正的保险丝中的数值被直接扫描（scan）至硬件缓存器，而未经过微码使用错误侦测与修正技术去修正该数值。举例来说，不可修正的保险丝有高速缓存修正保险丝、以及锁相回路（Phase Lock Loop，PLL）校正保险丝。在微处理器的一实施例中，微码无法读取不可修正的保险丝。

因此，亟需一种方法可以决定不可修正的保险丝是否发生了保险丝再生长状况。

发明内容

本发明的一实施例提供了一种微处理器，包括多个第一保险丝以及多个第二保险丝。上述第一保险丝根据一预定值被选择性地熔断，其中上述预定值用以供上述微处理器的电路以控制上述微处理器的运作。上述第二保险丝根据错误侦测信息被选择性地熔断，其中上述错误侦测信息用以侦测上述第一保险丝中的一错误，该错误指示上述微处理器的一熔断保险丝回传一非熔断二进制值。其中上述微处理器为响应一第一使用者程序指令，而根据来自上述第二保险丝的错误侦测信息决定是否存在上述第一保险丝中的上述错误。其中上述微处理器响应上述第一使用者程序指令，而更产生一错误状态值以指示是否存在上述第一保险丝中的上述错误，其中上述微处理器响应一第二使用者程序指令，而回传上述错误状态值。

本发明的另一实施例提供了一种微处理器，包括多个第一保险丝以及多个第二保险丝。上述第一保险丝根据一预定值被选择性地熔断，其中上述预定值用以供上述微处理器的电路以控制上述微处理器的运作。上述第二保险丝根据错误侦测信息被选择性地熔断，其中上述错误侦测信息用以侦测上述第一保险丝中的一错误，该错误指示上述微处理器的一熔断保险丝回传一非熔断二进制值。其中上述微处理器为响应一第一使用者程序指令，而根据来自上述第二保险丝的错误侦测信息决定是否存在上述第一保险丝中的上述错误，其中于上述微处理器根据来自上述第二保险丝的错误侦测信息决定存在上述第一保险丝中的上述错误时，上述微处理器避免提取与执行所有的使用者程序指令。

本发明的另一实施例提供了一种微处理器，包括：多个第一保险丝，根据一预定值被选择性地熔断，其中上述预定值用以供上述微处理器的电路以控制上述微处理器的运作；以及多个第二保险丝，根据错误侦测信息被选择性地熔断，其中上述错误侦测信息用以侦测上述第一保险丝中的一错误，该错误指示上述微处理器的一熔断保险丝回传一非熔断二进制值；一微码单元，用以根据来自上述第二保险丝的错误侦测信息决定是否存在上述第一保险丝中的上述错误，其中上述微处理器响应一第一使用者程序指令，而根据来自上述第二保险丝的错误侦测信息决定是否存在上述第一保险丝中的上述错误。