[发明专利]一种LED芯片倒装的LED光源及其制造方法无效
申请号: | 201310048226.4 | 申请日: | 2013-02-06 |
公开(公告)号: | CN103151442A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 王冬雷 | 申请(专利权)人: | 芜湖德豪润达光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/48 | 分类号: | H01L33/48 |
代理公司: | 广东秉德律师事务所 44291 | 代理人: | 杨焕军 |
地址: | 241000 安徽省芜*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 倒装 光源 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及LED技术领域,具体的说是一种LED芯片倒装的LED光源及其制造方法。
背景技术
氮化镓基LED芯片已广泛应用于许多照明、指示、显示和背光源等领域。对使用蓝宝石衬底制备的LED芯片,由于蓝宝石是不导电绝缘体,使得LED芯片的正负电极必须制备在芯片的同一侧。请参阅图1,传统正装LED芯片结构是在蓝宝石衬底110上生长氮化镓基含量子阱140的半导体材料。通过刻蚀使N-型氮化镓层130形成外露的区域。然后,在P-型氮化镓层150上形成透明导电薄膜160作为电流扩展层和透光层。
氮化镓基LED芯片,其透明导电薄膜160采用Ni/Au材料。再通过在外露的N-型氮化镓层130和透明导电薄膜160的表面分别设置键合电极200和190,所述键合电极200和190分别与透明导电薄膜160和N-型氮化镓层130形成低电阻欧姆接触。
芯片通电后,量子阱140发出的光需要通过P-型氮化镓层150和透明导电薄膜160(图中箭头所示的方向为LED芯片的出光方向)。虽然,透明导电薄膜160可以与P-型氮化镓层150形成低阻欧姆接触,但是,LED芯片的透光性会随着透明导电薄膜160厚度的增加而急剧下降,从而严重影响LED芯片的出光率。
所以,为增加LED芯片的出光率,透明导电薄膜160的厚度不宜太厚。但是,在另一方面透明导电薄膜160的导电性(或电流扩展性)又会随着透明导电薄膜160厚度的减少而急剧下降,继而会影响LED芯片的出光均匀性和LED芯片的工作寿命。所以,两者之间相互矛盾,难以兼顾。
倒装的LED芯片可以有效地缓解上述正装LED芯片的局限性。请参阅图2,倒装的LED芯片与正装的LED芯片相比,其出光方向(图中箭头所示的方向为LED芯片的出光方向)在透明衬底3的一侧,可以有效避免出光方向被透明导电薄膜33吸收的问题。
量子阱31发出的光也有一部分朝向与出光方向相反的方向传播,虽然,有部分光被透明导电薄膜33反射回到出光方向,但由于经退火合金后的Ni/Au材质的透明导电薄膜33对于波长为470~520nm的光的反射率一般只有31%,所以大部分光都经透明导电薄膜33沿着出光方向的反方向损失掉。
而对于波长470~520nm的光,Ag和Al材质的薄膜分别有将近95%和84%的光反射率,但它们不能直接与P-型氮化镓层32形成低阻欧姆接触。
针对这一问题,业界提出了一改进方案,首先在透明导电薄膜33上制备Ni基薄膜35,再在其上制备高反射率的Ag薄膜或Al薄膜36;或者,首先在透明导电薄膜33上制备NiO/Au基多层薄膜35,然后,再在其上制备高反射率的Ag薄膜或Al薄膜36。
对采用Ni基薄膜加高反射率的Ag薄膜或Al薄膜的结构,由于反向出光被Ni基薄膜二次吸收只剩下大约30-40%反射,所以Ag薄膜或Al薄膜的反射效果并不明显。对采用NiO/Au基多层薄膜加高反射率的Ag薄膜或Al薄膜的结构,也同样由于NiO/Au基多层薄膜的低透光率而将大部分反射光吸收掉,使其反光效果的提高同样也不明显。
发明内容
本发明的其中一目的在于提供了一种LED芯片倒装的LED光源。
本发明的另一目的在于提供一种LED芯片倒装的LED光源制造方法。
为了达到上述目的,本发明采用了如下的技术方案:
一种LED芯片倒装的LED光源,包括LED芯片与基板,所述LED芯片包括依次叠加的透明衬底、N-型覆层、活性层、P-型覆层、透明导电薄膜层;于该N-型覆层外露的区域设有N-型电极极板,该N-型电极极板上设有金属凸点;所述透明导电薄膜层上设有P-型电极极板,该P-型电极极板上设有金属凸点;
所述基板为透明的基板,在该基板上设有金属凸台及用于连接外部电路的正、负电极;该N-型电极极板上的金属凸点及该P-型电极极板上的金属凸点分别与该基板上的金属凸台对应连接,所述基板上还设有封装胶,该封装胶将所述LED芯片覆盖。
作为本发明的优选技术方案:所述透明衬底与该N-型覆层之间设有缓冲层。
作为本发明的优选技术方案:所述透明衬底为蓝宝石、金刚砂、硅或砷化镓材料的透明衬底。
作为本发明的优选技术方案:所述活性层为单层或MQW层结构。
作为本发明的优选技术方案:所述透明导电薄膜层为单层或多层结构,厚度介于1nm-1000nm之间,该透明导电薄膜层采用透明导电氧化物或透明导电氮化物材料。
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