[发明专利]RFID标签的检查方法及检查装置

说明书

对于排列在集合基材上的多个RFID标签，能够一并地检查这些标签合格与否。该RFID标签的检查方法具有：对于排列在集合基材上、且处理无线信号的多个RFID标签，一并地从读写器发送测定用信号的工序；利用读写器一并地读取来自各个所述RFID标签的响应波的工序；以及基于读写器所读取到的接收信号的强度和个数，判断各个所述RFID标签合格与否的工序。

技术领域

本发明涉及RFID（Radio Frequency Identification：射频识别）系统中所使用的RFID标签的检查方法及检查装置。

背景技术

近年来，作为物品的信息管理系统，已投入使用的有：使读写器与附加在物品上的RFID标签以非接触方式进行通信以传输规定信息的RFID系统。读写器和ＲＦＩＤ标签分别具有用于处理高频信号的无线IC元件或者供电电路及天线。

作为RFID系统，一般有利用13MHz频带的HF频带RFID系统、利用900MHz频带的RFID系统。特别是UHF频带RFID系统，由于通信距离比较大，能够一并读取多个标签，因此，作为物品管理用系统，有望引起重视。

作为在出货前检查所制造的这种RFID标签合格与否的系统，例如专利文献1中所记载的系统，该系统既能传送通过隔开规定的间隔来配置多个RFID标签而得到的长条状片材，又能对每一个RFID标签进行通信和检查。但是，在该系统中，为了使每个RFID标签在不相互干扰的情况下能够各自进行通信，即，为了在非开放系统中进行通信和检查，通信和检查的时间将变得非常长。此外，由于使用了长条状的片材，因此，在将规定个数的RFID标签配置于集合基材上的状态下无法进行检查。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2009－181246号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

本发明的目的在于提供一种对于排列在集合基材上的多个RFID标签，能够一并地检查它们合格与否的RFID标签的检查方法及检查装置。

解决技术问题所采用的技术方案

本发明的实施方式1的RFID标签的检查方法，其特征在于，具有：对于排列在集合基材上、且处理无线信号的多个RFID标签，一并地从读写器发送测定用信号的工序；利用读写器一并地读取来自各个所述RFID标签的响应波的工序；以及基于读写器所读取到的接收信号的强度和个数，判断各个所述RFID标签合格与否的工序。

所述检查方法中，对于排列在集合基材上的多个RFID标签一并地发送测定用信号，利用发送用读写器或接收专用读写器一并地读取来自各个RFID标签的响应波，并通过分析所读取代的接收信号，来判断各个RFID标签合格与否。因此，在譬如开放系统中，能够在较短时间内，一并地对多个RFID标签进行检查。

本发明的实施方式2的RFID标签的检查装置，其特征在于，具有

电介质构件，该电介质构件用于对通过排列多个RFID标签而成的集合基材进行配置；读写器，该读写器配置在通过所述电介质构件与所述集合基材相对的位置上；以及判断手段，该判断手段基于由所述读写器所读取到的接收信号的强度及个数，分别判断各个所述RFID标签合格与否。

根据所述检查装置，能够以简单的结构使所述检查方法高效地进行处理。

发明效果

根据本发明，对于排列在集合基材上的多个RFID标签，能够一并地检查合格与否。

附图说明

图1示出了作为检查对象的RFID标签，（A）表示的是每个RFID标签的立体图，（B）表示的是排列在集合基材上的多个RFID标签的立体图。