[发明专利]RFID标签的检查方法及检查装置有效
| 申请号： | 201280003915.7 | 申请日： | 2012-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN104487985B | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 向井刚;道海雄也 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G06K17/00 | 分类号： | G06K17/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | rfid 标签 检查 方法 装置 | ||
1.一种RFID标签的检查方法，其特征在于，具有
将排列多个RFID标签而成的集合基材配置在电介质构件上，对于所述集合基材，一并地从读写器经由所述电介质构件发送测定用信号的工序；
利用所述读写器经由所述电介质构件一并地读取来自各个所述RFID标签的响应波的工序；以及
基于所述读写器所读取到的响应波的接收信号的强度及个数，判断所述集合基材是否包含不合格的RFID标签的工序，
所述电介质构件被构成为在所述多个RFID标签与所述读写器的天线之间使通信距离的峰值频率偏移。
2.如权利要求1中所述的RFID标签的检查方法，其特征在于，
从一个读写器发送测定用信号，并利用该读写器一并地读取来自各个所述RFID标签的响应波。
3.如权利要求2中所述的RFID标签的检查方法，其特征在于，
在所述读取工序中，利用反射板能增强来自所述RFID标签的响应波。
4.如权利要求1中所述的RFID标签的检查方法，其特征在于，
从一个读写器发送测定用信号，并利用另一个读写器一并地读取来自各个所述RFID标签的响应波。
5.如权利要求1至4中任一项所述的RFID标签的检查方法，其特征在于，
所述合格与否判断工序具有：判断各个所述RFID标签的响应波的接收信号强度是否在阀值以上的工序，以及判断所读取的个数与排列在所述集合基材上的RFID标签个数是否一致的工序。
6.如权利要求1至4中任一项所述的RFID标签的检查方法，其特征在于，
在所述发送工序中，在发送测定用信号的读写器与多个所述RFID标签之间，设置有电介质构件。
7.一种RFID标签的检查装置，其特征在于，具有
电介质构件，该电介质构件用于对通过排列多个RFID标签而成的集合基材进行配置；
读写器，该读写器配置在通过所述电介质构件与所述集合基材相对的位置上；以及
判断手段，该判断手段基于由所述读写器所读取到的响应波的接收信号的强度及个数，判断所述集合基材是否包含不合格的RFID标签，
所述电介质构件被构成为在所述多个RFID标签与所述读写器的天线之间使通信距离的峰值频率偏移。
8.如权利要求7中所述的RFID标签的检查装置，其特征在于，具有
还具有反射板，该反射板配置在所述集合基材的与所述读写器相反的一侧。
9.如权利要求8中所述的RFID标签的检查装置，其特征在于，具有还具有对所述读写器与所述反射板之间的距离进行调整的调整手段。
10.如权利要求7中所述的RFID标签的检查装置，其特征在于，
在所述集合基材的与所述读写器相反的一侧，配置有接收用的另一个读写器。
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