[实用新型]一种CMOS电路结构、OLED及显示装置有效
申请号: | 201220687076.2 | 申请日: | 2012-12-12 |
公开(公告)号: | CN202948922U | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 任章淳 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/092 | 分类号: | H01L27/092;H01L27/32 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 cmos 电路 结构 oled 显示装置 | ||
1.一种CMOS电路结构,具有PMOS区域和NMOS区域,其特征在于,包括:依次位于衬底基板之上的PMOS半导体层和NMOS半导体层、栅绝缘层、PMOS栅极和NMOS栅极、层间介质层、以及PMOS源漏极和NMOS源漏极,其中,
所述PMOS半导体层、PMOS栅极和PMOS源漏极位于PMOS区域内;所述PMOS半导体层由P型掺杂多晶硅材料制成;
所述NMOS半导体层、NMOS栅极和NMOS源漏极位于NMOS区域内;所述NMOS半导体层由氧化物材料制成。
2.如权利要求1所述的CMOS电路结构,其特征在于,所述氧化物材料为铟镓氧化锌IGZO、氧化锌ZnO、氧化铟锌IZO、铟锡氧化锌ITZO。
3.如权利要求1所述的CMOS电路结构,其特征在于,还包括:位于所述衬底基板与所述PMOS半导体层和NMOS半导体层之间的缓冲层。
4.如权利要求1所述的CMOS电路结构,其特征在于,所述PMOS源漏极通过过孔与所述PMOS半导体层连接;所述NMOS源漏极通过过孔与所述NMOS半导体层连接。
5.如权利要求1-4任一项所述的CMOS电路结构,其特征在于,还包括:依次位于所述PMOS源漏极和NMOS源漏极之上的平坦层、以及作为阳极的像素层,所述像素层通过过孔与所述PMOS源漏极的源极或漏极电性相连。
6.如权利要求5所述的CMOS电路结构,其特征在于,还包括:位于所述像素层之上的像素限定层。
7.一种OLED,其特征在于,包括如权利要求1-6任一项所述的CMOS电路结构。
8.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求1-6任一项所述的CMOS电路结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的