[发明专利]一种氧化腐蚀去除硅纳米线太阳能电池表面缺陷层的方法有效

专利信息
申请号: 201210508966.7 申请日: 2012-12-04
公开(公告)号: CN103022247A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 丁建宁;李坤堂;袁宁一;王秀琴;陆鹏飞 申请(专利权)人: 常州大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;C30B33/10
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 213164 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 氧化 腐蚀 去除 纳米 太阳能电池 表面 缺陷 方法
【权利要求书】:

1.用于制备硅纳米线太阳能电池的二次氧化钝化方法,其特征在于包括如下步骤:

(1)在(100)p或n型单晶硅上利用金属辅助湿法腐蚀方法形成纳米线;

(2)在硅纳米线表面形成一层氧化层

方案一:利用干氧氧化工艺在硅纳米线表面形成一层氧化层:

在氧气气氛下,氧气流量在20-80 sccm,温度在 800~900 oC,加热 10-30分钟,形成氧化层厚度在5~10 nm;

或方案二:利用体积浓度为20-30 %的双氧水室温浸泡硅纳米线10-30min;

(3)利用HF酸腐蚀氧化层

利用HF酸水溶液浸泡硅纳米线10-30min,去除氧化层。

2.如权利要求1所述的用于制备硅纳米线太阳能电池的二次氧化钝化方法,其特征在于:所述p型或n型单晶硅片的电阻率在1~30 Ωcm,厚度在150~220 μm。

3.  如权利要求1所述的用于制备硅纳米线太阳能电池的二次氧化钝化方法,其特征在于:所述HF酸为HF酸水溶液,摩尔浓度为1~3 %。

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