[发明专利]一种氧化腐蚀去除硅纳米线太阳能电池表面缺陷层的方法有效
申请号: | 201210508966.7 | 申请日: | 2012-12-04 |
公开(公告)号: | CN103022247A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 丁建宁;李坤堂;袁宁一;王秀琴;陆鹏飞 | 申请(专利权)人: | 常州大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C30B33/10 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
地址: | 213164 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氧化 腐蚀 去除 纳米 太阳能电池 表面 缺陷 方法 | ||
1.用于制备硅纳米线太阳能电池的二次氧化钝化方法,其特征在于包括如下步骤:
(1)在(100)p或n型单晶硅上利用金属辅助湿法腐蚀方法形成纳米线;
(2)在硅纳米线表面形成一层氧化层
方案一:利用干氧氧化工艺在硅纳米线表面形成一层氧化层:
在氧气气氛下,氧气流量在20-80 sccm,温度在 800~900 oC,加热 10-30分钟,形成氧化层厚度在5~10 nm;
或方案二:利用体积浓度为20-30 %的双氧水室温浸泡硅纳米线10-30min;
(3)利用HF酸腐蚀氧化层
利用HF酸水溶液浸泡硅纳米线10-30min,去除氧化层。
2.如权利要求1所述的用于制备硅纳米线太阳能电池的二次氧化钝化方法,其特征在于:所述p型或n型单晶硅片的电阻率在1~30 Ωcm,厚度在150~220 μm。
3. 如权利要求1所述的用于制备硅纳米线太阳能电池的二次氧化钝化方法,其特征在于:所述HF酸为HF酸水溶液,摩尔浓度为1~3 %。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的