[发明专利]一种显示装置及其像素单元的缺陷修复方法

说明书

技术领域

本发明涉及OLED显示技术领域，尤其涉及一种显示装置及其像素单元的缺陷修复方法。

背景技术

显示面板由众多的显示点组成，靠每个显示点上的液晶材料在电信号控制下改变光的透过量成像。例如，在一个分辨率为1024×768的显示面板中有786432个显示点，在显示面板阵列基板一侧，每个显示点都对应有三个像素；在显示面板彩色滤光膜基板一侧，分别对应着红R、绿G、蓝B三种滤光单元，每个滤光单元对应一个像素。显示面板中的点以及对应这些点的驱动部分、背光部分等结构的任何一处发生问题，就会使这个像素成为一个点缺陷，点缺陷就是显示板上不可修复的像素。

如图1所示，每个显示点包含横向的R、G、B三个像素单元，每一列为同色像素单元，如果红色像素单元的驱动电路出现故障或者异常，则该显示点的红色显示出现异常，进而导致该显示点颜色异常。

现有的修复上述缺陷的方案包括在每个像素的驱动电路中预设备用的薄膜晶体管，当驱动电路中的薄膜晶体管出现故障时，激光切断所述故障的薄膜晶体管并连接所述备用薄膜晶体管以修复故障像素单元。该方案会增加制程工艺并且只能解决晶体管故障引起的像素缺陷，对因驱动电路其他部分的故障引起的缺陷不能有效进行修复。

发明内容

本发明的目的在于提出一种显示装置及其像素单元的缺陷修复方法，用遮光层和栅极金属层做预留的修复线路，将驱动电路故障的有机发光器件与正常同色像素单元的有机发光器件并联，使点的像素缺点变得不明显。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种显示装置，包括设置于衬底上的彼此交叉的扫描线和数据线以及像素单元，所述像素单元包括驱动电路和有机发光器件，

在衬底上方的遮光层沿所述数据线或者所述扫描线方向设有修复线，所述修复线上方布设金属跨接区，所述修复线与金属跨接区用于断开故障像素单元内的驱动电路后接入正常同色像素单元的驱动信号。

所述有机发光器件为顶发射有机发光器件。

所述金属跨接区布设于栅极金属层。

所述正常同色像素单元为相邻的同色像素单元。

沿所述数据线方向每两个或者三个相邻像素单元设有一条修复线以及与每个所述相邻像素单元对应的金属跨接区。

所述像素单元的驱动电路为激光可熔断型。

一种像素单元缺陷修复的方法，该方法包括：

沿数据线或者扫描线方向在遮光层预设修复线，在所述遮光层上方的栅极金属层预设金属跨接区；

切断缺陷像素单元的驱动电路；

通过所述修复线和金属跨接区引入正常同色像素单元的驱动信号修复所述缺陷像素单元。

所述像素单元的驱动电路为激光可熔断型。

在所述修复线与金属跨接区的交叉部进行激光熔接，引入所述正常的同色像素单元的驱动信号。

当所述像素单元中的有机发光器件为顶发射有机发光器件时，从所述像素单元发光侧的相反一侧进行激光熔接修复。

所述正常的同色像素单元为相邻的同色像素单元。

沿所述数据线方向每两个或者三个相邻像素单元预设一条修复线以及与每个所述相邻像素单元对应的金属跨接区。

采用本发明的技术方案，在不更换掩膜版的基础上，用遮光层和栅极金属层做预留的修复线路，将驱动电路故障的有机发光器件与正常同色像素单元的有机发光器件并联，使点的像素缺点变得不明显，可以修复任何驱动电路故障引起的像素缺陷，而不仅局限于修复晶体管故障导致的缺陷。

附图说明

图1是现有的显示装置内部像素单元结构示意图。

图2是本发明实施例一提供的显示装置内部像素单元结构示意图。

图3是本发明实施例一的显示装置进行像素缺陷修复时的示意图。

图4是本发明实施例二提供的显示装置内部像素单元结构示意图。

图5是本发明实施例二的显示装置进行像素缺陷修复时的示意图。

图6是本发明实施例提供的像素单元缺陷修复方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

图2是本发明实施例一提供的显示装置的结构示意图，该显示装置包括扫描线、数据线以及像素单元，每个像素单元包括驱动单元和有机发光器件，所述驱动电路的输出端与有机发光器件的输入端连接，用于驱动所述有机发光二极管进行照明。