[发明专利]一种显示装置及其像素单元的缺陷修复方法有效
申请号: | 201210442994.3 | 申请日: | 2012-11-07 |
公开(公告)号: | CN103810965A | 公开(公告)日: | 2014-05-21 |
发明(设计)人: | 蔡韬;田凯;郭峰 | 申请(专利权)人: | 上海天马微电子有限公司 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 马晓亚 |
地址: | 201201 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示装置 及其 像素 单元 缺陷 修复 方法 | ||
1.一种显示装置,包括设置于衬底上的彼此交叉的扫描线和数据线以及像素单元,所述像素单元包括驱动电路和有机发光器件,其特征在于,
在衬底上方的遮光层沿所述数据线或者所述扫描线方向设有修复线,所述修复线上方布设金属跨接区,所述修复线与金属跨接区用于断开故障像素单元内的驱动电路后接入正常同色像素单元的驱动信号。
2.如权利要求1所述的显示装置,其特征在于,所述有机发光器件为顶发射有机发光器件。
3.如权利要求2所述的显示装置,其特征在于,所述金属跨接区布设于栅极金属层。
4.如权利要求1所述的显示装置,其特征在于,所述正常同色像素单元为相邻的同色像素单元。
5.如权利要求1所述的显示装置,其特征在于,沿所述数据线方向每两个或者三个相邻像素单元设有一条修复线以及与每个所述相邻像素单元对应的金属跨接区。
6.如权利要求1所述的显示装置,其特征在于,所述像素单元的驱动电路为激光可熔断型。
7.一种像素单元缺陷修复的方法,其特征在于,该方法包括:
沿数据线或者扫描线方向在遮光层预设修复线,在所述遮光层上方的栅极金属层预设金属跨接区;
切断缺陷像素单元的驱动电路;
通过所述修复线和金属跨接区引入正常同色像素单元的驱动信号修复所述缺陷像素单元。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述像素单元的驱动电路为激光可熔断型。
9.如权利要求7所述的方法,其特征在于,在所述修复线与金属跨接区的交叉部进行激光熔接,引入所述正常的同色像素单元的驱动信号。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,当所述像素单元中的有机发光器件为顶发射有机发光器件时,从所述像素单元发光侧的相反一侧进行激光熔接修复。
11.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述正常的同色像素单元为相邻的同色像素单元。
12.如权利要求7所述的方法,其特征在于,沿所述数据线方向每两个或者三个相邻像素单元预设一条修复线以及与每个所述相邻像素单元对应的金属跨接区。
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