[发明专利]非易失性存储器指令处理的装置及方法在审
申请号: | 201210365280.7 | 申请日: | 2012-09-26 |
公开(公告)号: | CN103677748A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 朱一明;王林凯;胡洪 | 申请(专利权)人: | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F9/30 | 分类号: | G06F9/30 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 赵娟 |
地址: | 100083 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非易失性存储器 指令 处理 装置 方法 | ||
1.一种非易失性存储器的指令处理装置,其特征在于,包括:
指令处理模块,所述指令处理模块包括以下子模块:
指令接收子模块,用于接收指令信号;
指令判断子模块,用于判断所述指令信号是为正常指令信号或异常指令信号;
正常指令处理子模块,用于若为正常指令信号,则允许指令信号输入;
异常指令处理子模块,用于若为异常指令信号,则禁止指令信号输入。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述指令判断子模块包括:
高阈值采样单元,用于将所述指令信号用高阈值采样,获得高阈值采样信号;
低阈值采样单元,用于将所述指令信号用低阈值采样,获得低阈值采样信号;
采样信号判断单元,用于判断所述高阈值采样信号与所述低阈值采样信号是否一致,若是,则调用第一判定单元,若否,则调用第二判定单元;
第一判定单元,用于判定为正常指令信号;
第二判定单元,用于判定为异常指令信号。
3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述高阈值采样单元包括:
第一高阈值取值子单元,用于若指令信号高于预置的高阈值,则采样信号取第一特征值;
第二高阈值取值子单元,用于若指令信号低于预置的高阈值,则采样信号取第二特征值。
4.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述低阈值采样单元包括:
第一低阈值取值子单元,若指令信号高于预置的低阈值,则采样信号取第一特征值;
第二低阈值取值子单元,若指令信号低于预置的低阈值,则采样信号取第二特征值。
5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述指令判断子模块包括:
判断单元,用于判断所述指令信号在预置的指令集内是否有对应的指令,若有,则调用第一判定单元,若无,则调用第二判定单元;
第一判定单元,用于判定为正常指令信号;
第二判定单元,用于判定为异常指令信号。
6.一种非易失性存储器指令处理的方法,其特征在于,包括:
接收指令信号;
判断所述指令信号是为正常指令信号或异常指令信号;
若为正常指令信号,则允许指令信号输入;
若为异常指令信号,则禁止指令信号输入。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述判断指令信号是为正常指令信号或异常指令信号的步骤包括:
将所述指令信号用高阈值采样,获得高阈值采样信号;
将所述指令信号用低阈值采样,获得低阈值采样信号;
判断所述高阈值采样信号与所述低阈值采样信号是否一致;
若是,则判定为正常指令信号;
若否,则判定为异常指令信号。
8.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述将指令信号用高阈值采样,获得高阈值采样信号的步骤包括:
若指令信号高于预置的高阈值,则采样信号取第一特征值;
若指令信号低于预置的高阈值,则采样信号取第二特征值。
9.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述将指令信号用低阈值采样,获得低阈值采样信号的步骤包括:
若指令信号高于预置的低阈值,则采样信号取第一特征值;
若指令信号低于预置的低阈值,则采样信号取第二特征值。
10.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述判断指令信号是为正常指令信号或异常指令信号的步骤包括:
判断所述指令信号在预置的指令集内是否有对应的指令;
若有,则判定为正常指令信号;
若无,则判定为异常指令信号。
11.一种非易失性存储器芯片,其特征在于,包括:
指令处理模块,所述指令处理模块包括以下子模块:
指令接收子模块,用于接收指令信号;
指令判断子模块,用于判断所述指令信号是为正常指令信号或异常指令信号;
正常指令处理子模块,用于若为正常指令信号,则允许指令信号输入;
异常指令处理子模块,用于若为异常指令信号,则禁止指令信号输入。
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