[发明专利]介质隔离压阻式压力传感器及其制备方法有效
申请号: | 201210340683.6 | 申请日: | 2012-09-15 |
公开(公告)号: | CN102998037A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 汪祖民;展明浩;吕东锋;郭群英;徐栋;黄斌;王鹏;何凯旋 | 申请(专利权)人: | 华东光电集成器件研究所 |
主分类号: | G01L1/18 | 分类号: | G01L1/18;B81B3/00;B81C1/00 |
代理公司: | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 | 代理人: | 杨晋弘 |
地址: | 233042 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 介质隔离 压阻式 压力传感器 及其 制备 方法 | ||
1.一种介质隔离压阻式压力传感器,其特征在于包括:SOI硅片以及键合连接的下盖板(6),SOI硅片的顶层硅(5c)中设有一组压敏体电阻(1),压敏体电阻(1)周围设有隔离介质(2a),顶层硅(5c)表面设有氧化隔离层(2),氧化隔离层(2)的表面设有一组铝电极(4),每个铝电极分别通过导线与对应的压敏体电阻(1)连接;SOI硅片的底层硅(5)中设有空腔,空腔中部设有凸起的硅岛(5a)。
2.根据权利要求1所述的一种介质隔离压阻式压力传感器,其特征在于所述的一组压敏体电阻(1)分别布设在顶层硅(5c)四边的中间位置。
3.一种介质隔离压阻式压力传感器的制备方法,包括以下步骤:
(1)、SOI硅片表面淀积氮化硅;
(2)、SOI硅片底层硅光刻、腐蚀形成空腔及硅岛;
(3)、SOI硅片顶层硅正面光刻、刻蚀出体电阻的隔离槽,隔离槽中的顶层硅形成压敏体电阻;
(4)、SOI硅片热氧化,在隔离槽中填充绝缘介质;
(5)、SOI硅片双面去除氮化硅;
(6)、SOI硅片双面生长氧化绝缘层;
(7)、SOI硅片顶层硅正面光刻压敏电阻接线孔;
(8)、SOI硅片顶层硅正面溅射铝,光刻铝电极、铝布线图形,并腐蚀形成电极铝及铝布线;
(9)、SOI硅片底层硅与下盖板键合,进行下盖板真空封装。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东光电集成器件研究所,未经华东光电集成器件研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210340683.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电池芯装配方法
- 下一篇:逐层分级预控沉井倾斜的方法