[发明专利]介质隔离压阻式压力传感器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210340683.6 申请日: 2012-09-15
公开(公告)号: CN102998037A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 汪祖民;展明浩;吕东锋;郭群英;徐栋;黄斌;王鹏;何凯旋 申请(专利权)人: 华东光电集成器件研究所
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18;B81B3/00;B81C1/00
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 代理人: 杨晋弘
地址: 233042 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 介质隔离 压阻式 压力传感器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种介质隔离压阻式压力传感器,其特征在于包括:SOI硅片以及键合连接的下盖板(6),SOI硅片的顶层硅(5c)中设有一组压敏体电阻(1),压敏体电阻(1)周围设有隔离介质(2a),顶层硅(5c)表面设有氧化隔离层(2),氧化隔离层(2)的表面设有一组铝电极(4),每个铝电极分别通过导线与对应的压敏体电阻(1)连接;SOI硅片的底层硅(5)中设有空腔,空腔中部设有凸起的硅岛(5a)。

2.根据权利要求1所述的一种介质隔离压阻式压力传感器,其特征在于所述的一组压敏体电阻(1)分别布设在顶层硅(5c)四边的中间位置。

3.一种介质隔离压阻式压力传感器的制备方法,包括以下步骤:

(1)、SOI硅片表面淀积氮化硅;

(2)、SOI硅片底层硅光刻、腐蚀形成空腔及硅岛;

(3)、SOI硅片顶层硅正面光刻、刻蚀出体电阻的隔离槽,隔离槽中的顶层硅形成压敏体电阻;

(4)、SOI硅片热氧化,在隔离槽中填充绝缘介质;

(5)、SOI硅片双面去除氮化硅;

(6)、SOI硅片双面生长氧化绝缘层;

(7)、SOI硅片顶层硅正面光刻压敏电阻接线孔;

(8)、SOI硅片顶层硅正面溅射铝,光刻铝电极、铝布线图形,并腐蚀形成电极铝及铝布线;

(9)、SOI硅片底层硅与下盖板键合,进行下盖板真空封装。

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