[发明专利]一种电容触摸屏装置缺陷检测方法

权利要求书

1.一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法，所述装置包含电容屏、电容屏控制芯片，所述电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线Drive Line和感测线Sense Line，其特征在于，先每次驱动一行驱动线依次驱动所有驱动线，得到互电容值测量矩阵，再以同时驱动i行驱动线的方式依次驱动所有驱动线，得到新的互电容值测量矩阵，i为小于驱动线行数的自然数，根据两次测量结果的差值变化情况来判断相应电容是否有缺陷存在。

2.如权利要求1所述的方法，对于一个设置有N行驱动线和M列感测线的电容触摸屏，

首先以每次驱动一行驱动线的方式依次驱动所有驱动线，得到互电容值测量矩阵C[x，y]，其中Cxy为驱动第x行驱动线，对第y列感测线扫描得到的测量值；

再次同时驱动2行驱动线，依次驱动所有驱动线，得到互电容值测量矩阵C′[x，y]，其中C′xy(1＜x≤N)为同时驱动第x-1、x行驱动线，并对第y列感测线扫描得到的测量值，C′_1y为同时驱动第N、第1行驱动线，对第y列感测线扫描得到的测量值；

计算差值矩阵ΔC[x，y]＝C[x，y]-C′[x，y]，合格电容屏两次测量值差值分布在一个合理范围内，如Thr1＜ΔCxy＜Thr2，Thr1和Thr2为预设的门槛值。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述互电容值二维矩阵的量测可以为n次，n＞2。

4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述缺陷为检测电容值无法正确检测到电容值的改变。

5.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述电容屏控制芯片包括可配置驱动电压的驱动电路及检测电路，所述驱动电路具有可调整的驱动电压。

6.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述电容屏控制芯片的数目可以多于1个，以适应不同尺寸电容屏的需求。

7.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述电容屏控制芯片还可以与MCU集成在一起。