[发明专利]一种基于相变材料的可调谐超材料吸收器有效
申请号: | 201210238032.6 | 申请日: | 2012-07-10 |
公开(公告)号: | CN102707537A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 曹暾 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | G02F1/17 | 分类号: | G02F1/17 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 李宝元;梅洪玉 |
地址: | 116024*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 相变 材料 调谐 吸收 | ||
1.一种基于相变材料的可调谐超材料吸收器,其特征在于,该吸收器基于多层结构,其顶部金属层具有周期性结构的孔阵列;所述的多层结构是通过在玻璃衬底上生长金属层、相变材料层、金属层和氧化层而成,金属层的宽度在1微米至2厘米、高度在20纳米至10微米,相变材料层宽度在1微米至2厘米、高度在20纳米至10微米;氧化层宽度在1微米至2厘米、高度在1纳米至1微米;所述的周期性孔矩阵孔是三角形、方形、圆形、椭圆形、弧形、十字形、六边形;孔的宽度在20纳米至1微米、高度在60纳米至30微米。
2.根据权利要求1所述的可调谐超材料吸收器,其特征在于,金属层Al、Ag、Au、Cu、Ni。
3.根据权利要求1所述的可调谐超材料吸收器,其特征在于,相变材料层包括GeTe,Ge2Sb2Te5,Ge1Sb2Te4, Ge2Sb2Te4,Ge3Sb4Te8,Ge15Sb85,Ag5In6Sb59Te30。
4.根据权利要求1所述的可调谐超材料吸收器,其特征在于,氧化层是In2O3、SnO2、ITO。
5.根据权利要求1所述的可调谐超材料吸收器,其特征在于,多层结构可以通过材料生长工艺实现,包括电子束蒸发、金属有机化合物化学气相沉淀、气相外延生长、分子束外延。
6.根据权利要求1所述的可调谐超材料吸收器,其特征在于,周期性孔矩阵通过干法或者湿法刻蚀工艺实现,包括电子束曝光、聚焦离子束曝光、反应离子束刻蚀。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连理工大学,未经大连理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210238032.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:透明代理方法及代理服务器
- 下一篇:主动式独立悬挂