[发明专利]一种薄膜晶体管的制造方法及阵列基板的制造方法有效

专利信息
申请号: 201210228691.1 申请日: 2012-07-02
公开(公告)号: CN102738007A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 高涛;宁策;于航;张方振 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/77;G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 制造 方法 阵列
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶面板制造领域,尤其涉及一种薄膜晶体管的制造方法及阵列基板的制造方法。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,简称TFT-LCD),具有体积小、功耗低、无辐射等优点,在当前的平板显示器市场中占据了主导地位。

现有技术制造TFT-LCD的方法中,薄膜晶体管的源极和漏极是用表面各个角上的对位标记来全面对准的,这样的对位方法对位精度不高,会造成栅极与源极、栅极与漏极之间有对位偏移,从而造成源/漏极与栅极之间的电容不均,进而导致液晶显示器色度不均,影响产品质量。

发明内容

本发明的实施例提供一种薄膜晶体管的制造方法及阵列基板的制造方法,用以使源/漏极和栅极之间对位精确,从而提高产品质量。

为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:

一方面,提供一种薄膜晶体管的制造方法,包括:

在透明基板上形成栅极;

在形成有所述栅极的基板上形成栅绝缘层;

在所述栅绝缘层上制作透明的半导体薄膜,并通过构图工艺形成半导体层,且保留位于所述半导体层上方的光刻胶;

从所述透明基板一侧,以所述栅极为掩膜对保留的光刻胶进行曝光处理,在显影后形成与所述栅极相应的沟道位光刻胶;

在带有所述沟道位光刻胶的基板上制作源漏金属薄膜,并剥离所述沟道位光刻胶及其上方的源漏金属薄膜,再通过构图工艺形成源极、漏极。

另一方面,提供一种阵列基板的制造方法,包括:

在透明基板上形成栅金属层;所述栅金属层包括:栅线和薄膜晶体管的栅极;

在形成有所述栅金属层的基板上形成栅绝缘层;

在所述栅绝缘层上制作透明的半导体薄膜,并通过构图工艺形成半导体层,且保留位于所述半导体层上方的光刻胶;

从所述透明基板一侧,以所述栅极为掩膜对保留的光刻胶进行曝光处理,在显影后形成至少与所述栅极相应的沟道位光刻胶;

在带有所述沟道位光刻胶的基板上制作源漏金属薄膜,并剥离所述沟道位光刻胶及其上方的源漏金属薄膜,再通过构图工艺形成源漏金属层;所述源漏金属层包括:数据线和薄膜晶体管的源极、漏极。

本发明实施例提供的薄膜晶体管的制造方法和阵列基板的制造方法,从透明基板的一侧以栅极作为掩膜板进行曝光处理,在显影后形成与所述栅极相应的沟道位光刻胶,并在之后通过剥离工艺去除掉沟道位光刻胶及其上方的源漏金属薄膜,从而形成与栅极对位精准的源极、漏极,进而可以提高产品质量。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1~图6为本发明实施例提供的一种薄膜晶体管的制造方法过程中的结构示意图;

图7~图10为本发明实施例提供的另一种薄膜晶体管的制造方法过程中的结构示意图;

图11~图13为本发明实施例提供的一种阵列基板的制造方法过程中的结构示意图;

图14~图18为本发明实施例提供的另一种阵列基板的制造方法过程中的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

参考图1-图6,本发明实施例提供的薄膜晶体管的制造方法,包括以下步骤:

S11、如图1所示,在透明基板001上形成栅极11。

示例性的,可以在透明基板上采用磁控溅射设备沉积栅金属薄膜,并利用构图工艺形成栅极。其中,该栅金属薄膜的材料可以是钼、铝、铜或者钨等金属,或者该栅金属薄膜还可以是钼、铝、铜或者钨等金属的复合膜层。

S12、在形成有所述栅极的基板上形成图2中的栅绝缘层002。

示例性的,可以用等离子体增强化学气相沉积设备沉积厚度为的栅绝缘层,该栅绝缘层的材料可以是SiNx、SiOx,该等离子体增强化学气相沉积设备中对应的反应气体可以为SiH4、NH3、N2的混合气体或SiH2、Cl2、NH3、N2的混合气体。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210228691.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top