[发明专利]一种白光LED芯片及其制作方法无效
申请号: | 201210182617.0 | 申请日: | 2012-05-31 |
公开(公告)号: | CN102769080A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
发明(设计)人: | 张昊翔;万远涛;高耀辉;金豫浙;封飞飞;李东昇;江忠永 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰明芯科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/02 | 分类号: | H01L33/02;H01L33/50 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 310018 浙江省杭州市杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 白光 led 芯片 及其 制作方法 | ||
1.一种白光LED芯片,包括:
第一衬底;
发光元件,所述发光元件位于所述第一衬底上;
表面荧光体层,覆盖于所述发光元件上,所述表面荧光体层为固体状材质,所述表面荧光体层的厚度为10μm~100μm。
2.如权利要求1所述的白光LED芯片,其特征在于,所述表面荧光体层的材质为单结晶体、多结晶体或由荧光体粉末烧结呈的块状荧光体。
3.如权利要求1所述的白光LED芯片,其特征在于,所述表面荧光体层的材质为黄色荧光体、黄色荧光体与绿色荧光体、黄色荧光体与红色荧光体、或黄色荧光体、绿色荧光体与红色荧光体三者的组合。
4.如权利要求3所述的白光LED芯片,其特征在于,所述黄色荧光体的材质为镧系元素掺杂的铝酸盐荧光体,所述绿色荧光体的材质为卤代硅酸盐,所述红色荧光体的材质为氮化物荧光体。
5.如权利要求1所述的白光LED芯片,其特征在于,所述表面荧光体层的厚度为20μm~50μm。
6.如权利要求1所述的白光LED芯片,其特征在于,所述白光LED芯片为倒装结构,所述发光元件由第一衬底向上依次包括P型层、发光层、N型层、缓冲层和第二衬底,所述第二衬底为发光面,所述发光元件还包括第一电极和第二电极,所述第一电极位于所述P型层和所述第一衬底之间,所述第二电极位于所述P型层和所述第一衬底之间;所述白光LED芯片还包括导电层,所述第一电极和第二电极通过所述导电层焊接于所述第一衬底。
7.如权利要求1所述的白光LED芯片,其特征在于,所述白光LED芯片为垂直结构,所述发光元件由第一衬底向上依次包括第一电极、P型层、发光层和N型层和第二电极,所述N型层为发光面;在所述发光元件和所述第一衬底之间,所述LED芯片还包括导电层和金属反射层,所述金属反射层形成于所述第一衬底和所述第一电极之间,所述导电层形成于第一衬底的金属反射层所在面的相对面上,所述表面荧光体层在所述第一电极上形成有开口。
8.如权利要求1所述的白光LED芯片,其特征在于,所述白光LED芯片为平面结构,所述发光元件由第一衬底向上依次包括N型层、发光层和P型层,所述P型层为发光面,所述白光LED芯片还包括第一电极和第二电极,所述第一电极位于所述P型层上,所述第二电极位于所述N型层上;所述表面荧光体层在所述第一电极和第二电极上均形成有开口。
9.如权利要求1至8中任意一项所述的白光LED芯片,其特征在于,所述发光元件激发紫外光或蓝紫光。
10.如权利要求1至8中任意一项所述的白光LED芯片,其特征在于,所述白光LED芯片还可以包含钝化层,所述钝化层位于所述发光元件和所述表面荧光体层之间。
11.一种白光LED芯片的制造方法,包括:
提供第一衬底;
在所述第一衬底上形成发光元件;
在所述发光元件上覆盖表面荧光体层,所述表面荧光体层为固体状材质,所述表面荧光体层采用磁控溅射、离子辅助蒸发或电子束蒸发法形成,所述表面荧光体层的厚度为10μm~100μm。
12.如权利要求11所述的白光LED芯片的制造方法,其特征在于,所述表面荧光体层的采用磁控溅射法形成,反应在氩气环境氛围中,反应功率大于5kW,反应靶材与所述第一衬底之间距离为5cm~10cm,环境压力为30~60mTorr,沉积时间为150s~250s。
13.如权利要求11所述的白光LED芯片的制造方法,其特征在于,所述表面荧光体层的材质为单结晶体、多结晶体或由荧光体粉末烧结呈的块状荧光体。
14.如权利要求11所述的白光LED芯片,其特征在于,所述表面荧光体层的材质为黄色荧光体、黄色荧光体与绿色荧光体、黄色荧光体与红色荧光体、或黄色荧光体、绿色荧光体与红色荧光体三者的组合。
15.如权利要求14所述的白光LED芯片的制造方法,其特征在于,所述黄色荧光体的材质为镧系元素掺杂的铝酸盐荧光体,所述绿色荧光体的材质为卤代硅酸盐,所述红色荧光体的材质为氮化物荧光体。
16.如权利要求11所述的白光LED芯片的制造方法,其特征在于,所述表面荧光体层的厚度为20μm~50μm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州士兰明芯科技有限公司,未经杭州士兰明芯科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210182617.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。