[发明专利]发光二极管晶粒测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种发光二极管晶粒测试装置，用于测试一个发光二极管晶粒是否满足预定的光电特性，该发光二极管晶粒用于在满足该预定的光电特性后被封装成发光二极管，该发光二极管晶粒测试装置包括：

一个输出电源用于输出电源至该发光二极管晶粒，以使该发光二极管晶粒发光；

一个光谱分析仪用于测量该发光二极管晶粒发出的光的波长；

及

一个处理器，其包括

一个控制单元，用于控制该输出电源依据设定的电功率值向该发光二极管晶粒输入电源并控制该光谱分析仪测量该发光二极管晶粒发出的光的波长；

一个存储单元，该存储单元内存储有该发光二极管晶粒对应不同的输入电功率所应发出的光的波长的标准范围值；

一个用户接口用于接收用户输入以确定的该输出电源的电源输出功率及该光谱分析仪测量到的该光电转换芯片发出的光的波长；及

一个分析单元，用于分析该发光二极管晶粒在该输出电源输出的一电功率时，该发光二极管晶粒发出的光的波长是否落入在该电功率下该发光二极管晶粒所应发出的光的波长的标准范围值内，以供判断该发光二极管晶粒的光电特性是否满足预定的光电特性。

2.如权利要求1所述的发光二极管晶粒测试装置，其特征在于，该测试装置还包括一个用于承载该发光二极管晶粒的卡盘。

3.如权利要求2所述的发光二极管晶粒测试装置，其特征在于，该发光二极管晶粒测试装置还包括一个光纤，该光纤的一端与该光谱分析仪相连，另一端置于该发光二极管晶粒上方，用于将该发光二极管晶粒发出的发光传递至该光谱分析仪。

4.如权利要求2所述的发光二极管晶粒测试装置，其特征在于，该悬架还包括一个转盘、一个悬臂及一个相机模块；该悬臂固定于该转盘上；该相机模块设置在该悬臂上；该转盘用于通过转动调整该相机模块的位置至该相机模块与该发光二极管晶粒正对，该相机模块用于拍摄该发光二极管晶粒的图像以根据该图像分析该发光二极管晶粒是否存在外观不良。

5.如权利要求1所述的发光二极管晶粒测试装置，其特征在于，该输出电源包括一个电流/电压显示器及与该电流/电压显示器连接的两个连接针，该两个连接针分别连接至发光二极管晶粒的正负两极，该两个连接针用于将该输出电源输出的电源输出该发光二极管晶粒，以使该发光二极管晶粒发光，该电流/电压显示器显示对应该电功率时，该输出电源输出的电流值与电压值。

6.如权利要求1所述的发光二极管晶粒测试装置，其特征在于，该用户接口还用于接收用户输入以设定该电功率值。

7.一种发光二极管晶粒测试方法，用于测试一个发光二极管晶粒是否满足预定的光电特性，该发光二极管晶粒用于在满足该预定的光电特性后被封装成发光二极管，该发光二极管晶粒测试测试方法包括以下步骤：

承载该发光二极管晶粒；

设定输出电源功率值；

根据该输出电源功率值向该发光二极管晶粒提供输入电源以使发光二极管晶粒发光；

测量该发光二极管晶粒发出的光的波长；

根据该输出电源功率值、测量到的该发光二极管晶粒的发出的光的波长判断该发光二极管晶粒的光电特性是否满足该预定的光电特性，从而判断该发光二极管晶粒是否合格。

8.如权利要求7所述的发光二极管晶粒方法，其特征在于，该发光二极管晶粒测试方法还包括步骤：

拍摄该发光二极管晶粒的图像；及

根据该图像分析该发光二极管晶粒是否存在外观不良，若该发光二极管晶粒是存在外观不良，则不封装该发光二极管晶粒。