[发明专利]绝缘测定用探针单元以及绝缘测定装置有效

专利信息
申请号: 201210140815.0 申请日: 2012-05-08
公开(公告)号: CN102778594A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 大地隆广;宇田隆;前川贵史 申请(专利权)人: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/12
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 杨暄
地址: 日本国东京都武藏*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 绝缘 测定 探针 单元 以及 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种测定太阳能电池板等的基板的周边部的绝缘状态的绝缘测定用探针单元以及绝缘测定装置。

背景技术

太阳能电池板等的基板中,出于安装支承框的目的等,在其周边部设有绝缘区域。对于太阳能电池板,在基板的上侧面层叠太阳能电池膜,在太阳能电池膜的上侧面介由胶带层叠背板。然后,去除周边部的太阳能电池膜等,设置绝缘区域。

专利文献1是这样的太阳能电池板的实例。该专利文献1的太阳能电池板按如下方式制造。

首先,在基板的主面整体形成太阳能电池用膜。接着,通过激光划片机将形成的膜切成长方形形状。通过重复这样的操作,制作成串联连接的太阳能电池模块。

接着,去除主面上周边部的太阳能电池用膜,露出基板。具体来说,通过采用激光的清边装置,去除周边部的太阳能电池用膜,或者,通过旋转的磨石的研磨、喷砂等的喷砂的研磨,去除周边部的太阳能电池用膜。然后,配置胶带和背板,通过真空层压法等接合。

这种情况下,若基板周边部的太阳能电池用膜没有被完全去除还有残留,则不能充分得到与胶带的紧贴性和接合力,可能会产生间隙。若产生间隙的话,该间隙中浸入水分,则可能会引起太阳能电池的绝缘性下降或太阳能电池用膜的劣化。进一步地,还有残膜的话,绝缘耐压下降,与太阳能电池板取付構造体之间可能产生接地故障。

为了消除这些问题,需要确实地去除基板周边部的太阳能电池用膜。

于是,为了确实地去除残膜,或者提高上述清边装置的激光的输出,或者上述喷砂研磨中采用产生细粒粉尘的微型喷砂装置进行清边,但都各有优缺点,难以完全去除残膜。

为此,需要确认是否没有太阳能电池用膜的残膜。为此,在去除太阳能电池用膜之后,进行检查。具体来说,通过目视、电阻测试仪进行抽样检查。

又,作为太阳能电池的制造方法也有专利文献2所记载那样的。该太阳能电池的制造方法包含如下步骤而构成:串形成工序,将多个在透光性绝缘基板的表面依次层叠第1电极层、光电转换层和第2电极层形成薄膜光电转换元件形成相互电气串联连接的串;膜去除工序,通过激光去除在透光性绝缘基板的表面的外周部形成的薄膜光电转换元件部分、以在整周形成非导电性表面区域;清净化工序,去除在膜去除工序中产生的、在非导电性表面区域附着的导电性附着物。

这种情况与前面一样形成周边部,需要确认该周边部是否没有太阳能电池用膜的残膜,这一点与专利文献1的情况时一样的。

又,并不限于太阳能电池,对于其它的面板等,对于需要设置周边部的面板等都是一样的。即、需要确认该周边部是否没有太阳能电池用膜的残膜,这一点与专利文献1的情况时一样的。

【现有技术文献】

【专利文献】

【专利文献1】日本特开2003-142717号公报

【专利文献2】日本特开2009-206279号公报

发明内容

【发明要解决的技术问题】

然而,上述各现有技术中进行抽样检查时,不进行全数检查,因此难以进行严密的检查。目视的情况也是一样,难以进行严密的检查。另一方面,全数检查的话,花费时间,难以进行迅速地检查。

于是,抽样检查中漏掉的、有残膜的太阳能电池板中,有该残膜部分成为漏电电流的发生源的情况,也有从残膜的部分层压密闭发生剥离、并浸水从而导致面板整体不良的情况。

由此可见,残膜即使仅有一点,也会成为引起问题的原因,因此要求严密的检查。因此,期望一种在短时间能够容易且高精度地检查残膜的装置。

本发明正是鉴于上述的问题而提出的,其目的在于提供一种在短时间能够容易且高精度地检查残膜的绝缘测定用探针单元以及绝缘测定装置。

【解决问题的技术手段】

本发明的绝缘测定用探针单元,其是用于测定基板表面的内侧部和周边部之间的绝缘状态的绝缘测定用探针单元,所述绝缘测定用探针单元包括:面探针,其形成为与上述基板表面的周边部相同的形状,与周边部整体面状地接触以整个面导通;接点探针,其与上述基板表面的内侧部接触,所述绝缘测定用探针单元测定与上述面探针接触的上述基板表面的周边部、和与上述接点探针接触的上述基板表面的内侧部之间的绝缘状态。

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