[发明专利]以ITO∕ZnO基复合膜为p电极的LED电极制作方法有效

专利信息
申请号: 201210119604.9 申请日: 2012-04-21
公开(公告)号: CN102637786A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 吕建国;陈丹;叶志镇 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 代理人: 刘晓春
地址: 310027*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: ito zno 复合 电极 led 制作方法
【说明书】:

 

技术领域

本发明涉及一种发光二级管电极的制作方法,尤其涉及一种以ITO/ZnO基复合膜为p电极的LED电极的制作方法。

背景技术

由于发光二极管(LED)具有节能环保的双重优势,被认为是二十一世纪最有发展前景的新一代节能照明光源,得到了广泛的应用,但是LED的制备方法还需要不断改进,主要是降低成本和提高发光效率。LED常用的p电极材料为Ni/Au,但Ni/Au是不透明的,影响了LED的发光效率,如果使用透明电极,会明显提高发光效率。

目前,LED透明电极材料主要采用氧化铟锡(ITO),但由于In为稀有金属,价格昂贵而且有毒性,因此寻找一种物美价廉的透明电极材料取代ITO一直备受关注。氧化锌(ZnO)是一种Ⅱ-Ⅵ族的化合物半导体,对于可见光具有很高的透明度,通过Ⅲ族元素掺杂,ZnO可以实现较低的电阻率;同时,ZnO自然界储量丰富,具有成本低、无毒、在氢等离子体环境下相对稳定等优良特性,是极佳的LED的电极材料。

由于发光二极管p型层材料高的功函数和低的空穴浓度,与ZnO之间很难形成良好的欧姆接触,ZnO直接用作p电极材料,开启电压较高。王书方(王书方,表面化学处理和退火对p-GaN /ZnO:Ga接触特性的影响[J].发光学报.2010.31(6):848-853)等人研究了表面处理和退火对p-GaN/ZnO:Ga接触特性的影响,不论是对GaN表面化学处理还是在N2气氛中退火,GaN层与ZnO层之间均表现出较高的接触电阻;中国专利CN102142496A报道了一种GaN基LED中P型GaN上双层透明电极,该透明电极由ITO薄膜和ZnO基薄膜双层结构组成,采用ZnO取代部分ITO,节约了成本,减少了环境污染,但是,此专利仅涉及到电极的双层结构以及电极材料的生长方法,并未涉及到此种电极的刻蚀方法;中国专利CN102169943A报道了采用ITO/ZnO基复合膜作为LED透明电极,用ZnO替代部分ITO,节约了成本,减少了污染;但是在刻蚀ITO/ZnO基复合膜时,采用干法刻蚀ITO膜,相对于湿法刻蚀,刻蚀效率低,灵活性差。

由于ITO、ZnO两种材料在同种腐蚀液中腐蚀速率差别较大,腐蚀速率较快的 ZnO基导电膜先被腐蚀掉,腐蚀速率较慢的ITO导电膜后被腐蚀。在光刻腐蚀ITO/ZnO基复合膜的过程中,首先是未被光刻胶保护的ZnO基导电膜被腐蚀掉,暴露出ITO导电膜,随着腐蚀时间的推进,暴露出的ITO导电膜逐渐被腐蚀掉,但是由于ZnO基导电膜腐蚀速率较快,在腐蚀暴露出的ITO导电膜的同时,光刻胶保护部分的ZnO基导电膜也会被腐蚀掉一部分,甚至会出现ZnO基导电膜全部被腐蚀掉而ITO导电膜还未被腐蚀的状况,无法形成ITO/ZnO基复合膜覆盖的电极区域,不能满足实际生产的需求。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提供一种以ITO/ZnO基复合膜为p电极的LED电极制作方法,其工艺效果良好,产品可靠性高。

本发明采用下述技术方案:以ITO/ZnO基复合膜为p电极的LED电极制作方法,包括:

1)        清洗基片;

2)        在基片上沉积ITO导电膜;

3)        对ITO导电膜光刻,形成n电极区域和ITO导电膜覆盖的p电极区域,所述的ITO导电膜覆盖的面积略大于p电极区域;

4)        在n电极区域和p电极区域上沉积ZnO基导电膜(3);

5)        对ZnO基导电膜光刻,去掉n电极区域的ZnO膜,在p电极区域上形成ITO/ZnO基复合膜;

6)        在n电极区域上刻蚀台阶;

7)        在n电极区域的台阶和ITO/ZnO基复合膜上依次沉积电极金属和钝化层,所述的钝化层覆盖在电极金属之上;

8)        刻蚀去除电极金属上的钝化层,制得以ITO/ZnO基复合膜为p电极的LED电极。

其中,所述步骤1)中清洗基片的方法包括酸清洗、有机清洗或水清洗;

所述步骤3)中的光刻腐蚀液为盐酸、硝酸或硫酸;

所述步骤4)中沉积ZnO基导电膜的方法为电子束蒸发、磁控溅射或脉冲激光沉积;

所述步骤5)中的光刻腐蚀液为酸或碱溶液;

所述步骤6)中刻蚀台阶的方法为电感耦合等离子体刻蚀或反应离子刻蚀;

所述步骤7)中沉积电极金属的方法为电子束蒸发、热蒸发或磁控溅射;

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