[发明专利]一种伪差分式存储阵列无效
申请号: | 201210109509.0 | 申请日: | 2012-04-13 |
公开(公告)号: | CN102637449A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 刘新宇;陈建武;吴旦昱;周磊;武锦;金智 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G11C7/12 | 分类号: | G11C7/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 分式 存储 阵列 | ||
1.一种伪差分式存储阵列,其特征在于,包括逻辑感应单元(20)、存储单元阵列(10)和列复用单元(30),其中存储单元阵列(10)由排成阵列结构的多个存储单元构成,每个存储单元与差分位线相连接,并且差分位线通过列复用单元(30)与逻辑感应单元(20)相连接。
2.根据权利要求1所述的伪差分式存储阵列,其特征在于,所述每个存储单元由一个双极型晶体管构成,在存储单元阵列(10)中,同一行的存储单元的基极连接到字线WL,集电极接地,发射极与差分位线中同相位线或反相位线相连接,若与同相位线相连接,则存储的数据是逻辑电平“1”;反之,若与反相位线相连接,则存储的是逻辑电平“0”。
3.根据权利要求1所述的伪差分式存储阵列,其特征在于,所述列复用单元(30)与差分位线相连接,用于从多列存储单元中选择一列存储单元,并在对应的差分位线上导通相同的电流。
4.根据权利要求3所述的伪差分式存储阵列,其特征在于,所述每一对差分位线BL和分别与列复用单元(30)中两个列复用晶体管的集电极相连接,这两个列复用晶体管基极与列选择信号RS相连接,其中,第一列复用晶体管(Q1)集电极与同相位线BL相连接,第二列复用晶体管(Q2)集电极与反相位线相连接;第一列复用晶体管(Q1)和第二列复用晶体管(Q2)基极与列选择信号RS1相连接。
5.根据权利要求4所述的伪差分式存储阵列,其特征在于;在列复用单元(30)中,所有与同相位线BL相连的列复用晶体管发射极连接到第一电流源(I1),所有与反相位线相连的的列复用晶体管发射极连接到第二电流源(I2),且第一电流源(I1)和第二电流源(I2)的电流相等。
6.根据权利要求1所述的伪差分式存储阵列,其特征在于,所述逻辑感应单元(20)通过在位线上串联共源共栅晶体管(cascode)和感应电阻,在不降低差分位线上电流情况下,减小差分位线上电压摆幅,从而减少对差分位线上寄生电容的充放电时间;并通过感应电阻将差分位线上电流转换为差分电压输出。
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