[发明专利]一种高压LED芯片及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201210087191.0 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN103367610A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 陈万世 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: H01L33/50 分类号: H01L33/50;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 高压 led 芯片 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种高压LED芯片,包括衬底,衬底之上依次形成的缓冲层、n型氮化物层、发光层和p型氮化物层,其特征在于,所述p型氮化物层上刻蚀有多个凹槽,所述凹槽的深度至n型氮化物层;所述凹槽底部的部分区域刻蚀有沟槽以形成间隔排列的微晶,所述沟槽的深度至衬底;所述沟槽及相邻微晶的侧壁上设有钝化层,所述微晶的p型氮化物层上形成有电流扩散层;所述钝化层上覆盖有连接凹槽底部与相邻微晶电流扩散层的导电层,所述电流扩散层上及相邻微晶之间覆盖有荧光粉层。

2.如权利要求1所述的一种高压LED芯片,其特征在于,所述衬底的底部设有金属层。

3.如权利要求2所述的一种高压LED芯片,其特征在于,所述金属层的材料为Ag或Al。

4.如权利要求1所述的一种高压LED芯片,其特征在于,所述荧光粉层上设有保护层。

5.如权利要求1所述的一种高压LED芯片,其特征在于,所述钝化层的材料为SiO2或SiN。

6.如权利要求1所述的一种高压LED芯片,其特征在于,所述衬底为蓝宝石衬底或AlN衬底。

7.一种高压LED芯片的制备方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

提供衬底,在衬底之上依次生长缓冲层、n型氮化物层、发光层和p型氮化物层;

在p型氮化物层上刻蚀多个凹槽,所述凹槽的深度至n型氮化物层;

在所述凹槽底部的部分区域刻蚀沟槽,所述沟槽的深度至衬底,由此形成间隔排列的微晶;

在所述沟槽及相邻微晶的侧壁上形成钝化层;

在所述微晶的p型氮化物层上形成电流扩散层;

形成用于连接凹槽底部与相邻微晶电流扩散层的导电层;

在芯片表面形成荧光粉层。

8.如权利要求7所述的一种高压LED芯片的制备方法,其特征在于,还包括:在所述衬底的底部形成一金属层。

9.如权利要求7所述的一种高压LED芯片的制备方法,其特征在于,还包括:形成荧光粉层之前,在芯片表面涂覆一层增粘剂。

10.如权利要求7所述的一种高压LED芯片的制备方法,其特征在于,还包括:在荧光粉层之上形成保护层。

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