[发明专利]肖特基位障二极管及其制造方法无效
申请号: | 201210078022.0 | 申请日: | 2012-03-22 |
公开(公告)号: | CN103325845A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 黄智方;杨宗谕;张庭辅;黄宗义;邱建维 | 申请(专利权)人: | 立锜科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/45;H01L21/329 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陈肖梅;谢丽娜 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 肖特基位障 二极管 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种肖特基位障二极管(Schottky barrier diode,SBD)及其制造方法,特别是指一种降低漏电流的SBD及其制造方法。
背景技术
肖特基位障二极管(SBD)为一半导体元件,相较于p-n接面二极管,其利用金属与半导体的肖特基接触(Schottky contact)所产生的肖特基位障(Schottky barrier),使得操作时顺向电流较大,且回复时间较短。然而由于使得SBD操作于逆向偏压时,会产生很大的漏电流,因此造成电能的损失。
有鉴于此,本发明即针对上述现有技术的不足,提出一种肖特基位障二极管及其制造方法,使得肖特基位障二极管操作于逆向偏压,降低漏电流,以减少肖特基位障二极管操作时的电能损耗。
发明内容
本发明目的在于克服现有技术的不足与缺陷,提出一种肖特基位障二极管及其制造方法。
为达上述目的,就其中一个观点言,本发明提供了一种肖特基位障二极管形成于一基板中,包含:一氮化镓(gallium nitride,GaN)层,形成于该基板的一上表面上;一氮化铝镓(aluminum gallium nitride,AlGaN)层,形成于该GaN层上,且该GaN层与该AlGaN层形成该SBD的一阴极(cathode);一高功函数导电层,形成于该AlGaN层上,且该高功函数导电层与该AlGaN层间,形成一第一肖特基接触;一低功函数导电层,形成于该AlGaN层上,且该低功函数导电层与该AlGaN层间,形成一第二肖特基接触,该低功函数导电层的功函数低于该高功函数金属层的功函数,且该高功函数导电层与该低功函数导电层电连接,形成该SBD的阳极;以及一欧姆接触金属层,形成于该AlGaN层上,并与该AlGaN层间,形成一欧姆接触,且该欧姆接触金属层与该高功函数导电层及该低功函数导电层间,由一绝缘层隔开。
就另一观点言,本发明也提供了一种肖特基位障二极管制造方法,包含:形成一氮化镓(gallium nitride,GaN)层于一基板上;形成一氮化铝镓(aluminum gallium nitride,AlGaN)层于该GaN层上,且该GaN层与该AlGaN层形成该SBD的一阴极(cathode);形成一高功函数导电层于该AlGaN层上,且该高功函数导电层与该AlGaN层间,形成一第一肖特基接触;形成一低功函数导电层于该AlGaN层上,且该低功函数导电层与该AlGaN层间,形成一第二肖特基接触,该低功函数导电层的功函数低于该高功函数金属层的功函数,且该高功函数导电层与该低功函数导电层电连接,形成该SBD的阳极;以及形成一欧姆接触金属层于该AlGaN层上,并与该AlGaN层间,形成一欧姆接触,且该欧姆接触金属层与该高功函数导电层及该低功函数导电层间,由一绝缘层隔开。
在其中一种较佳实施型态中,该绝缘层由俯视图视之,环绕该高功函数导电层及该低功函数导电层,且该欧姆接触金属层,环绕该绝缘层。
上述较佳实施型态中,该低功函数导电层,由俯视图视之,位于该高功函数导电层之中。
在另一种较佳实施型态中,该基板包含一绝缘基板或一导体基板。
在另一种较佳实施型态中,该高功函数导电层包括一钨(W)或金(Au)层,且该低功函数导电层包括一铝(Al)或钛(Ti)层。
下面通过具体实施例详加说明,当更容易了解本发明的目的、技术内容、特点及其所达成的功效。
附图说明
图1A-1C显示本发明的第一个实施例;
图2A-2C举例显示第一个实施例中,其俯视图不同的实施方式;
图3显示SBD电流-电压特性曲线;
图4显示应用本发明的SBD的电流-电压特性曲线模拟图;
图5A-5C以肖特基接触能带图来解释本发明操作的原理;
图6显示本发明的另一个实施例;
图7举例显示金属的功函数。
图中符号说明
11 基板
12 GaN层
13 AlGaN层
14 阳极导电层
14a 高功函数导电层
14b 低功函数导电层
15 欧姆接触金属层
16 绝缘层
100,300 肖特基位障二极管
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