[发明专利]智能相位伏安表及其测量方法有效
申请号: | 201210027780.X | 申请日: | 2012-02-09 |
公开(公告)号: | CN102539867A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 闫章勇;董生怀;康健;熊志宏;张保军 | 申请(专利权)人: | 郑州万特电气有限公司 |
主分类号: | G01R15/00 | 分类号: | G01R15/00;G01R19/00;G01R25/00 |
代理公司: | 郑州红元帅专利代理事务所(普通合伙) 41117 | 代理人: | 黄军委 |
地址: | 450001 河南省郑*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 智能 相位 伏安 及其 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种电工测量仪表,具体的说,涉及了一种智能相位伏安表及其测量方法。
背景技术
目前,公知的数字双钳相位伏安表,大多是通过拨动旋钮开关选择测量工频电压、电流和相位,而在测量电压、电流幅值及其相位角时不仅要选择测量功能,还要选择测量的量限,例如电压的量限有500V、200V、20V,电流的量限有10A、2A、200mA。公知的数字双钳相位伏安表存在有以下的缺点:
1、测量电压、电流或相位时需要手动选择旋钮开关,而不能自动选择,若选择错误,会造成仪表不能正常测量,甚至会损坏仪表;
2、电压、电流幅值的测量需要手动选择量限,不能自动选择,若选择错误,会造成仪表测量精度不够,更有甚者会损坏仪表。
为了解决以上存在的问题,人们一直在寻求一种理想的技术解决方案。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的不足,从而提供一种智能相位伏安表,该智能相位伏安表具有操作简便、测量精度高和自动选择功能与量限的优点,本发明还提供了该智能相位伏安表的测量方法。
为了实现上述目的,本发明所采用的技术方案是:一种智能相位伏安表,它包括两只钳型电流互感器和一台主机,所述主机包括外壳和主机电路,所述外壳的面板上设置有接线面板和液晶显示器,所述接线面板包括输入接口U1、U2、I1和I2,所述主机电路包括有微处理器MCU、与所述微处理器MCU连接的三相电能计量单元ADE、键盘输入电路和电源管理单元;所述输入接口U1通过电压采样电路连接所述三相电能计量单元ADE,所述输入接口U2通过电压隔离采样电路连接所述三相电能计量单元ADE,所述输入接口I1通过电流采样电路1连接所述三相电能计量单元ADE,所述输入接口I2通过电流采样电路2连接所述三相电能计量单元ADE;所述键盘输入电路连接所述微处理器MCU以进行测量功能的选择;所述液晶显示器连接所述微处理器MCU用来显示测量结果;所述电源管理单元连接所述微处理器MCU以便控制所述电源管理单元为所述主机电路提供电源电压。
基于上述,所述键盘输入电路的输入键盘为旋钮式键盘,所述旋钮式键盘上设置有测量交流电压U1的键位、测量交流电流I1的键位、自动AUTO(φ)键位、测量交流电流I2的键位和测量交流电压U2的键位。
一种智能相位伏安表的测量方法,所述三相电能计量单元ADE预设多级测量量限,并将其中一级测量量限预设为当前测量量限,且每级测量量限对应一个测量计算程序;所述微处理器MCU预设多个测量量限值,多个测量量限值分别与所述三相电能计量单元ADE的多级测量量限一一对应,并将与所述当前测量量限对应的测量量限值预设为当前测量量限值;
该测量方法包括以下步骤:
步骤1、判别输入接口的采样信号是否有效:所述三相电能计量单元ADE读取所述输入接口的采样信号并进行处理,然后,所述微处理器MCU读取所述三相电能计量单元ADE处理后的采样信号,并将处理后的采样信号与预设的最小有效幅值进行比较,当处理后的采样信号小于预设的最小有效幅值时,所述采样信号被视为无效信号,当处理后的采样信号不小于预设的最小有效幅值时,所述采样信号被视为有效信号;
步骤2、自动寻档测量,包括以下子步骤:
步骤2.1、所述三相电能计量单元ADE在当前测量量限下,采用与所述当前测量量限对应的测量计算程序,对所述有效信号进行测量计算,得出采样信号的测量值;
步骤2.2、所述微处理器MCU读取所述测量值,并判断所述测量值是否在所述当前测量量限值的20%—110%范围内:
a、若所述测量值在当前测量量限值的20%—110%范围内,则所述测量值为最终测量值;
b、若所述测量值大于所述当前测量量限值的110%,所述微处理器MCU根据所述当前测量量限值,判断所述三相电能计量单元ADE的当前测量量限是否是最大一级测量量限,若是,则所述测量值即为最终测量值;反之,所述微处理器MCU向所述三相电能计量单元ADE发出调整信号,使所述三相电能计量单元ADE向上一级调整测量量限,并将向上调整后的测量量限重新设置为当前测量量限,同时,根据所述三相电能计量单元ADE重新设置的当前测量量限,所述微处理器MCU重新设置当前测量量限值,并返回步骤2.1;
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