[发明专利]智能相位伏安表及其测量方法

权利要求书

1.一种智能相位伏安表，包括两只钳型电流互感器和一台主机，所述主机包括外壳和主机电路，所述外壳的面板上设置有接线面板和液晶显示器，所述接线面板包括输入接口U1、U2、I1和I2，其特征在于：所述主机电路包括有微处理器MCU、与所述微处理器MCU连接的三相电能计量单元ADE、键盘输入电路和电源管理单元；所述输入接口U1通过电压采样电路连接所述三相电能计量单元ADE，所述输入接口U2通过电压隔离采样电路连接所述三相电能计量单元ADE，所述输入接口I1通过电流采样电路1连接所述三相电能计量单元ADE，所述输入接口I2通过电流采样电路2连接所述三相电能计量单元ADE；所述键盘输入电路连接所述微处理器MCU以进行测量功能的选择；所述液晶显示器连接所述微处理器MCU用来显示测量结果；所述电源管理单元连接所述微处理器MCU以便控制所述电源管理单元为所述主机电路提供电源电压。

2.根据权利要求1所述的智能相位伏安表，其特征在于：所述键盘输入电路的输入键盘为旋钮式键盘，所述旋钮式键盘上设置有测量交流电压U1的键位、测量交流电流I1的键位、自动AUTO（φ）键位、测量交流电流I2的键位和测量交流电压U2的键位。

3.权利要求1所述智能相位伏安表的测量方法，其特征在于：所述三相电能计量单元ADE预设多级测量量限，并将其中一级测量量限预设为当前测量量限，且每级测量量限对应一个测量计算程序；所述微处理器MCU预设多个测量量限值，多个测量量限值分别与所述三相电能计量单元ADE的多级测量量限一一对应，并将与所述当前测量量限对应的测量量限值预设为当前测量量限值；该测量方法包括以下步骤：步骤1、判别输入接口的采样信号是否有效：所述三相电能计量单元ADE读取所述输入接口的采样信号并进行处理，然后，所述微处理器MCU读取所述三相电能计量单元ADE处理后的采样信号，并将处理后的采样信号与预设的最小有效幅值进行比较，当处理后的采样信号小于预设的最小有效幅值时，所述采样信号被视为无效信号，当处理后的采样信号不小于预设的最小有效幅值时，所述采样信号被视为有效信号；步骤2、自动寻档测量，包括以下子步骤：步骤2.1、所述三相电能计量单元ADE在当前测量量限下，采用与所述当前测量量限对应的测量计算程序，对所述有效信号进行测量计算，得出采样信号的测量值；步骤2.2、所述微处理器MCU读取所述测量值，并判断所述测量值是否在所述当前测量量限值的20%—110%范围内：a、若所述测量值在当前测量量限值的20%—110%范围内，则所述测量值为最终测量值；b、若所述测量值大于所述当前测量量限值的110%，所述微处理器MCU根据所述当前测量量限值，判断所述三相电能计量单元ADE的当前测量量限是否是最大一级测量量限，若是，则所述测量值即为最终测量值；反之，所述微处理器MCU向所述三相电能计量单元ADE发出调整信号，使所述三相电能计量单元ADE向上一级调整测量量限，并将向上调整后的测量量限重新设置为当前测量量限，同时，根据所述三相电能计量单元ADE重新设置的当前测量量限，所述微处理器MCU重新设置当前测量量限值，并返回步骤2.1；c、若所述测量值小于所述当前测量量限值的20%，所述微处理器MCU根据所述当前测量量限值，判断所述三相电能计量单元ADE的当前测量量限是否是最小一级测量量限，若是，则所述测量值即为最终测量值，反之，所述微处理器MCU向所述三相电能计量单元ADE发出调整信号，使所述三相电能计量单元ADE向下一级调整测量量限，并将向下调整后的测量量限重新设置为当前测量量限，同时，根据所述三相电能计量单元ADE重新设置的当前测量量限，所述微处理器MCU重新设置当前测量量限值，并返回步骤2.1。

4.根据权利要求3所述智能相位伏安表的测量方法，其特征在于：它还包括有以下步骤：步骤3、监测和数据显示：所述输入接口包括有输入接口U1、输入接口U2、输入接口I1和输入接口I2；所述微处理器MCU对所述有效信号进行监测，并进行数据显示：a、当监测出步骤1中只有一个有效信号时，经步骤2自动寻档测量后，所述微处理器MCU根据该有效信号对应的最终测量值，计算出采样信号的有效幅值，所述液晶显示器显示该有效信号的输入接口名称和采样信号的有效幅值；b、当监测出步骤1中有两个有效信号时，经步骤2自动寻档测量后，所述微处理器MCU根据两个有效信号对应的最终测量值，计算当前两个采样信号之间的相位角值，所述液晶显示器显示两个有效信号的输入接口名称和所述相位角值；c、当监测出步骤1中有三个或四个有效信号时，所述液晶显示器显示当前有效信号的输入接口名称。