[发明专利]利用激光掺杂加刻蚀制备选择性发射结太阳电池的方法无效
申请号: | 201210009252.1 | 申请日: | 2012-01-12 |
公开(公告)号: | CN102544215A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 闻震利;王文静 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 关玲 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 激光 掺杂 刻蚀 制备 选择性 发射 太阳电池 方法 | ||
1.一种利用激光掺杂加刻蚀制备选择性发射结太阳电池的方法,其特征在于,所述的制备方法的步骤如下:
步骤1,用硝酸、氢氟酸和水制成混合化学腐蚀溶液,其中硝酸的质量浓度为30%,氢氟酸的质量浓度为8%;使用所述的混合化学腐蚀溶液对P型多晶硅片制绒,并去除所述的多晶硅片表面损伤层;
步骤2,将步骤1制得的硅片置于温度为820-828℃的管式扩散炉中,用三氯氧磷POCl3液态源对所述硅片进行扩散,形成N型深发射结N++,同时在硅片表面形成磷硅玻璃薄层;
步骤3,用波长为532nm的激光辐照对步骤2制得的硅片进行烧蚀,在所述硅片的辐射区实现磷的重掺杂而形成N型超级深发射结N+++,也即形成初步的选择性发射结;
步骤4,将质量浓度为1%的氢氟酸HF和质量浓度为65%的硝酸HNO3按照1∶4的体积比配成刻蚀溶液,对步骤3制得的硅片的发射结进行刻蚀,同时去除硅片表面的磷硅玻璃;
步骤5,用硝酸、氢氟酸和水制成混合化学腐蚀溶液,其中硝酸的质量浓度为30%,氢氟酸的质量浓度为8%。用此化学腐蚀液进行刻边;
步骤6,在温度为400℃~500℃的等离子增强化学气相淀积PECVD系统中,对所述的硅片进行镀氮化硅减反射膜处理,处理时间为700秒~800秒;
步骤7,采用丝网印刷工艺,在所述的硅片正面形成栅线电极,在所述的硅片背面形成铝背场;
步骤8,在温度为25~900℃的快速烧结炉中对所述的硅片进行烧结及金属化处理,时间为2分钟;
至此完成本发明太阳电池制备。
2.根据权利要求1所述的利用激光掺杂加刻蚀制备选择性发射结太阳电池的方法,其特征在于,所述的步骤8中,对所述的硅片进行烧结及金属化处理的优选温度为大于720℃至860℃,持续时间为4秒。
3.根据权利要求1所述的利用激光掺杂加刻蚀制备选择性发射结太阳电池的方法,其特征在于,所述的制备方法的步骤1中,用质量浓度为5%的氢氧化钾溶液对P型单晶硅片制绒,同时去除硅片表面损伤层。
4.根据权利要求1所述的利用激光掺杂加刻蚀制备选择性发射结太阳电池的方法,其特征在于,在所述的步骤4的腐蚀过程中遮光。
5.根据权利要求1所述的利用激光掺杂加刻蚀制备选择性发射结太阳电池的方法,其特征在于,所述的步骤4和所述的步骤5的顺序互换。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电工研究所,未经中国科学院电工研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210009252.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的