[实用新型]一种具有反射型电流阻挡层的LED芯片有效
申请号: | 201120189190.8 | 申请日: | 2011-06-03 |
公开(公告)号: | CN202094166U | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
发明(设计)人: | 樊邦扬;叶国光;梁伏波;杨小东;曹东兴 | 申请(专利权)人: | 广东银雨芯片半导体有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 529700 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 反射 电流 阻挡 led 芯片 | ||
【技术领域】
本实用新型涉及一种LED芯片,尤其是涉及一种具有反射型电流阻挡层的LED芯片。
【背景技术】
目前,发光二极管(LED)芯片结构有正装结构,垂直结构和倒装焊结构,其中正装结构的发光二极管芯片如图1所示,主要包括衬底1、形成在衬底上的缓冲层2(buffer layer)、形成在缓冲层上的N型半导体层3、形成在N型半导体层上的发光层4、形成在发光层上的P型半导体层5,形成P型半导体层5上的透明导电层6、以及P电极81和N电极82。由于LED芯片的电流积聚效应特别明显,即电流主要集中在电极正下方的发光层部分区域,横向扩展比较小,电流分布很不均匀,导致局部电流密度过大,热量过高,大大降低了芯片的使用效率和寿命。同时,在此区域电流密度最大,自然发光强度也最大,但此区域出射的光绝大部分会被正上方的不透明电极所遮挡,导致LED的出光效率降低。为了解决上述问题,行业内的普遍方法是在P型半导体层和P型电极之间直接镀上一层绝缘介质作电流阻挡层,请参见图2,这样虽然能够减少电极下方的电流比例,在一定程度上增加电流的扩散性,但增加的电流阻挡层势必会吸收一部分的光线,降低发光二极管的出光效率。
【实用新型内容】
本实用新型要解决的技术问题是提供一种散热效率高、电流扩散均匀、出光效率高的具有反射型电流阻挡层的LED芯片。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:一种具有反射型电流阻挡层的LED芯片,包括N型半导体层、形成在N型半导体层上的发光层、形成在发光层上的P型半导体层、形成在P型半导体层上的透明导电层、形成在透明导电层上的P电极和形成于N型半导体层上的N电极,其特征在于,在所述P型半导体层上P电极对应的正下方形成有第一沟槽,所述第一沟槽上形成有电流阻挡层,所述电流阻挡层由多层二氧化硅层和二氧化钛层交互层叠而成。
本实用新型与现有技术相比的有益效果是:由于在P型半导体层上P电极对应的正下方形成有第一沟槽,在第一沟槽的表面形成有电流阻挡层,电流阻挡层能够起到阻挡电流的作用,沟槽的形成破坏了P电极下的PN结结构,沟槽边缘能够防止P电极的金属层跨越P、N电极形成的漏电流,对电流起到一定的阻挡作用,减少电流向P电极积聚,起到双层电流阻挡的作用,使P电极注入的电流横向扩展到P电极下方以外的发光区,降低了电流积聚在P电极下方时产生的热量,提高了LED芯片热稳定性能的同时也延长了器件的使用寿命;由于电流阻挡层由多层二氧化硅层和二氧化钛层交互层叠而成,这样形成布拉格反射层,这样可以增加P电极下光的反射效率,减少P电极下方对光线的吸收,最大限度的提升LED芯片的外部光萃取效率,本实用新型的电流阻挡层既起到阻挡电流的作用,使LED芯片的电流扩散均匀以达到热稳定的性能,又起到光线反射的作用以提高LED芯片的出光效率,同时,本实用新型还具有结构简单、易于量产、良率高的优点。
优选的,在N型半导体层上N电极对应的正下方形成有第二沟槽,采用这样的结构能够使N电极下方的电流扩散更均匀。
优选的,所述第一沟槽和第二沟槽的深度在100nm至1000nm之间,该沟槽的厚度范围能有效阻挡电流,避免电流积聚在P电极下方,使电流扩散均匀。
优选的,所述第一沟槽和第二沟槽的深度为500nm,该沟槽的厚度为优选值,能有效阻挡电流,避免电流积聚在P电极下方,使电流扩散均匀。
优选的,所述电流阻挡层的厚度在2000nm至6000nm之间,电流阻挡层的宽度大于所述P电极的宽度,两者的宽度差距在3um到10um之间,该结构及相应的数值范围能有效阻挡电流,避免电流积聚在P电极下方,使电流扩散均匀。
优选的,所述电流阻挡层的厚度为4000nm,电流阻挡层的宽度大于所述P电极的宽度,两者的差距为6um,该结构及相应的数值范围能有效阻挡电流,避免电流积聚在P电极下方,使电流扩散均匀。
优选的,所述电流阻挡层沿第一沟槽表面延伸至沟槽两侧,该结构能有效阻挡电流,避免电流积聚在P电极下方,使电流扩散均匀。
优选的,所述P电极与透明导电层之间还形成有欧姆接触层,该结构可以使P电极与透明导电层之间结构良好。
优选的,还包括衬底和形成于衬底上的缓冲层,所述N型半导体层、发光层、P型半导体层依次形成于所述缓冲层上,增加缓冲层能够避免衬底和N型半导体层因材料不同造成两者间存在较大的晶格缺陷,使两者间的晶格匹配度更高。
【附图说明】
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
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