[发明专利]电容容量及其寄生电阻测量电路无效

专利信息
申请号: 201110437279.6 申请日: 2011-12-23
公开(公告)号: CN103176053A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 白云;童松林 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R27/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电容 容量 及其 寄生 电阻 测量 电路
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种电容容量及其寄生电阻测量电路,特别涉及一种用于测量超级电容容量及其寄生电阻的测量电路。

背景技术

随着电子技术的不断发展,电子设备对其内部元件的精度要求也越来越高,因此一些电子元件在使用前,经常需要对其参数进行测量。电容作为无源器件,在电路中具有储能、滤波、去耦等作用,在很多电子产品中,电容都是必不可少的电子元件,电容的容量及其寄生电阻是电容元件的重要参数,传统的测量方法是用电桥法测量,然而电桥法只适合对小容量的电容进行测量,当测量大容量的电容时,会产生较大的误差,将测量值误差较大的电容用在电子设备中,会影响电子设备的性能。

发明内容

有鉴于此,有必要提供一种可以准确测量电容容量及其寄生电阻的电路。

一种电容容量及其寄生电阻测量电路,包括:

一电压转换电路,用于接收一电压并将接收到的电压转换后输出;

一充电电路,用于对所述待测电容进行充电,并在所述待测电容充满电时输出一停止充电信号;

一放电及采样电路,包括一放电电阻,所述放电及采样电路接收所述电压转换电路的输出电压,并对一待测电容的放电过程进行控制以及侦测所述待测电容的电压及所述放电电阻的电压;

一控制电路,包括一具有内部计时器的微处理器,所述微处理器在待测电容充满电时接收充电电路输出的停止充电信号并根据所述停止充电信号控制所述充电电路停止对所述待测电容充电并输出一放电控制信号通过所述放电及采样电路控制所述待测电容放电,所述微处理器通过所述计时器及所述放电及采样电路获取所述待测电容从充满电至放电至零伏电压的放电时间并根据所述待测电容的放电时间及所述放电电阻的电阻值计算得到所述待测电容的容量;所述微处理器还控制所述放电及采样电路侦测所述待测电容充满电时的电压及侦测所述待测电容放电过程中任一时刻所述待测电容及放电电阻的电压以根据获得的该时刻的电压值及所述放电电阻的电阻值得到所述待测电容的寄生电阻值。

相较现有技术,所述电容容量及其寄生电阻测量电路通过所述控制电路控制所述充电电路对所述待测电容进行充电及通过控制所述放电及采样电路使所述待测电容放电,并通过所述放电及采样电路获取待测电容的电压及放电电阻的电压,以此来测量得到所述待测电容的电容容量及其寄生电阻值。所述电容容量及其寄生电阻测量电路测量准确。

附图说明

图1为本发明电容容量及其寄生电阻测量电路的较佳实施方式的框图。

图2至图5为本发明电容容量及其寄生电阻测量电路的较佳实施方式的电路图。

主要元件符号说明

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