[发明专利]用两个正交正弦光栅实现快速调制度测量轮廓术的方法

权利要求书

1.一种用两个正交正弦光栅实现快速调制度测量轮廓术的方法，其特征在于，将两个有一定间距的正交正弦光栅同时投影在被测物体上，并使被测物体位于两个光栅投影像面之间，CCD相机通过一个半透半反镜从同一个方向获取受到正交光栅调制的物体表面图像，采用傅里叶变换、空间频域滤波和逆傅里叶变换，将正交光栅图像分离，而得到两个光栅像在物体表面的调制度分布，该调制度分布曲线具有 X 交叉的性质，利用其比值和高度的对应关系可以重建物体三维面形。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，只需采集一幅图象，即可恢复出物体高度，除保留调制度测量轮廓术具有的垂直测量优点外，还具有三维信息实时采集的特点。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，如果采用图像处理硬件实现傅里叶变换、空间滤波和逆傅里叶变换，该方法可以实现实时的三维重建，在实时动态三维测量以及实时三维视频技术方面具有良好的应用前景。