[发明专利]检测2型糖尿病易感基因7个位点突变的基因芯片及其制作方法及试剂盒

说明书

技术领域

本发明涉及基因芯片检测领域，具体涉及一种快速检测2型糖尿病易感基因7个位点突变的基因芯片及其制作方法，以及包括该基因芯片的试剂盒，适用于低成本2型糖尿病易感基因关联分析。

背景技术

糖尿病是一种由胰岛素分泌缺陷和/或胰岛素作用障碍所致的复杂代谢性疾病，发病率逐年上升，我国的糖尿病发病人数位居世界第二，其中90％为2型糖尿病(简称T2DM)，且发病年龄趋向年轻化。持续高血糖所引发的慢性并发症已成为肾功能衰竭、失明和心脑血管疾病的主要原因，给个人、社会和国家医疗保健带来了沉重的负担，成为全球性的社会卫生和经济问题。由于T2DM具有家族性特征，且不同种族间发病率存在明显差异，另外同卵双生和异卵双生个体发病率和病情也不同，因此遗传成分在该病的发病中起重要作用。因此，通过连锁或关联分析确定糖尿病的易感或致病基因，对于从基因角度阐释糖尿病发病机制有重要意义。

传统的糖尿病易感基因检测方法主要包括：PCR-RFLP、AS-PCR和DNA测序方法等，这些方法在基因突变检测中起了重要作用，但普遍存在着明显的不足，诸如检测基因位点有限、耗时长、操作繁琐等，不适用于大批量、系统检测，给糖尿病的临床诊断带来困难。其中，PCR-RFLP方法是经典的生物学方法，但由于限制性内切酶识别位点有限，难以实现同时检测多个位点，且耗时较长；AS-PCR方法虽能准确检测突变，但要求扩增条件非常优化，且引物要有高度的特异性，否则易出现假限性或假阳性结果；DNA测序虽是目前公认的检测新突变的金标准，但由于其对特殊结构DNA序列无法测序，而且只有异质性水平＞25％时才能检出，而临床常用标本外周血白细胞中异质性水平通常都达不到这个标准，因此很易漏检。因此，如何快速、准确地检测糖尿病基因突变是糖尿病临床诊断的主要难题之一。

基因芯片是近年来兴起的一项重要生物技术，越来越多地应用于基因多态性分析和诊断。

随着基因芯片技术的发展，到2007年用全基因组SNP基因芯片进行糖尿病易感基因筛查的研究迅速增多，Diabetes Gene Discovery Group，Finland-US Investigation of NIDDM Genetics(FUSION)，deCODE Genetics，DiaGen等研究使用Illumina 100K或Illumina 300KSNP基因芯片，Diabetes Genetics Initiative，Wellcome Trust Case Control Consortium，Pima，Starr County，Texas，Old Order Amish，Framingham Health Study等研究使用Affymetrix 100K或Affymetrix 500K芯片，Japanese multi-disease collaborative genome scan使用JSNP Genome Scan 100K SNP芯片，BioBank Japan使用定制的268K SNP芯片。这些研究中或使用昂贵的商品化SNP芯片，或使用数十万个SNP位点，大规模应用其成本过高。目前常用的SNaPshot和Sequenom技术则需要购买昂贵的专门设备。因此，应用这些芯片虽然发现了多个2型糖尿病相关易感基因位点，但这些研究成果未能得到大规模关联分析的检验。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种检测2型糖尿病易感基因7个位点突变的基因芯片，该基因芯片只需借助常规的实验器具即可进行检测，易规模化应用。基于此，本发明的另一个目的在于提供一种前述基因芯片的制作方法以及包括该基因芯片的试剂盒。

为实现上述目的，本发明的技术方案是：