[发明专利]一种大容量多值阻变存储器无效

专利信息
申请号: 201110274869.1 申请日: 2011-09-16
公开(公告)号: CN102306705A 公开(公告)日: 2012-01-04
发明(设计)人: 黄如;杨庚雨;谭胜虎;唐昱;张丽杰;潘越;蔡一茂;黄英龙 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;G11C11/56
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 容量 多值阻变 存储器
【权利要求书】:

1.一种大容量多值阻变存储器,包括上电极和下电极,其特征在于,在上、下电极之间插入多个阻变材料层和缺陷层组合,其中,与上、下电极相接触的是阻变材料层,在阻变材料层之间是缺陷层。

2.如权利要求1所述的大容量多值阻变存储器,其特征在于,上电极和下电极为W、Al、Pt或TiN金属薄膜,厚度在150nm至500nm之间。

3.如权利要求1所述的大容量多值阻变存储器,其特征在于,阻变材料层为Ta2O5、TiO2或HfO2薄膜,厚度在10nm至80nm之间。

4.如权利要求1所述的大容量多值阻变存储器,其特征在于,缺陷层为Ti、Au或Ag金属薄膜,厚度在2nm至50nm之间。

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