[发明专利]通过随机存取存储器芯片地址引脚检测缺陷的测试方法

权利要求书

1.一种通过随机存取存储器RAM芯片地址引脚检测缺陷的测试方法，其特征在于包括：

向数量等于RAM芯片地址总线位数增加一、地址为全零以及地址为各条地址总线依次唯一地为1且其余地址总线为0的、特定的RAM存储单元写入相应的彼此不同的数据；

读出所述特定的RAM存储单元中的对应数据，形成结果数组；

确定结果数组中是否存在相同的元素；以及

如果结果数组中存在相同的元素，则判断RAM芯片引脚存在布线缺陷；如果结果数组中不存在相同的元素，则判断RAM芯片地址引脚不存在布线缺陷。

2.如权利要求1所述的测试方法，其中所述RAM芯片地址引脚缺陷包括RAM芯片的地址引脚之间的短路或者RAM芯片地址引脚的断路。

3.如权利要求1所述的测试方法，其中在向特定的RAM存储单元写入相应的彼此不同的数据之前，还包括：

将所述特定的RAM存储单元中的数据缓存在临时存储器中。

4.如权利要求1所述的测试方法，其中在形成结果数组之后，还包括：

将缓存在临时存储器中的数据写回到所述特定的RAM存储单元中。

5.如权利要求1所述的测试方法，其中在判断RAM芯片地址引脚中不存在缺陷之后，还包括对RAM芯片的全部存储单元的数据存取功能进行测试。