[发明专利]用于检测方位角的方法和装置有效
申请号: | 201110200980.6 | 申请日: | 2011-06-07 |
公开(公告)号: | CN102360077A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | 水谷玲义;中林健人;夏目一马 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01S13/06 | 分类号: | G01S13/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 张扬;王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 方位角 方法 装置 | ||
1.一种用于检测从存在于场所中的装置来看的方位角的装置(1、10), 所述装置包括:
具有沿预先设定的阵列轴排列的多个发射天线单元(AT1-AT4)的发射 阵列天线(2),以及具有沿所述阵列轴排列的多个接收天线单元(AR1-AR4) 的接收阵列天线(3);
信号获取模块(8(S110-180)、3、4、6、7、13),用于通过发送和接 收通过每一个信道的搜索波来获取针对每一个信道的接收信号,其中所述 信道是每一个所述发射天线单元和每一个所述接收天线单元的任意组合;
第一分析模块(8;S190),用于利用由所述信号获取模块所获取的接 收信号,沿所述发射天线单元和所述接收天线单元中任意一个的阵列轴执 行第一空间频率分析;
第二分析模块(8;S200),用于利用所述第一空间频率分析的结果, 沿所述发射天线单元和所述接收天线单元中另一个的阵列轴执行第二空间 频率分析;以及
方位角计算模块(8;S210),用于根据来自所述第二空间频率分析的 分析结果,确定反射所述搜索信号的目标的方位角。
2.根据权利要求1所述的装置,其中所述多个发射天线单元以等间隔 沿所述阵列轴间隔排列,并且所述多个接收天线单元以等间隔沿所述阵列 轴间隔排列。
3.根据权利要求2所述的装置,其中设置所述发射天线单元的所述间 隔和所述接收天线单元的所述间隔以使得所述发射阵列天线的主瓣和栅瓣 之间的方位角差等于或大于检测范围,所述检测范围是方位角宽度,所述 装置能够检测所述方位角直到所述方位角宽度为止。
4.根据权利要求3所述的装置,其中将所述检测范围设置成一个数量, 该数量是正整数乘以单位方位角宽度,通过所述单位方位角宽度,来自接 收天线单元中的相互邻近的单元的接收信号被给予了360度的相差。
5.根据权利要求3所述的装置,其中将所述检测范围设置成比所述方 位角宽度窄的数量,通过所述方位角宽度,来自接收天线单元中的相互邻 近的单元的接收信号被给予了360度的相差。
6.根据权利要求1所述的装置,其中所述发射天线单元和所述接收天 线单元分别以不均匀的间隔排列。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的装置,其中所述发射阵列天线和 所述接收阵列天线被制作成单个阵列天线。
8.根据权利要求1-7中任一项所述的装置,其中所述信号获取模块被 配置为允许所述发射天线单元在时分技术下操作。
9.根据权利要求8所述的装置,其中所述信号获取模块被配置为:使 所述发射天线单元的切换伴随着在所述信道的切换之间的等待时段,所述 等待时段被设置成比所述搜索波传输预定的最大检测距离并返回所需的时 间段长。
10.根据权利要求1-9中任一项所述的装置,其中所述第一空间频率分 析和所述第二空间频率分析是波束成形处理或高分辨率处理。
11.一种用于检测从存在于场所中的装置来看的方位角的方法,所述 装置包括具有沿预先设定的阵列轴排列的多个发射天线单元(AT1-AT4)的 发射阵列天线(2),以及具有沿所述阵列轴排列的多个接收天线单元 (AR1-AR4)的接收阵列天线(3),所述方法包括:
通过发送和接收通过每一个信道的搜索波来获取针对每一个信道的接 收信号,其中所述信道是每一个所述发射天线单元和每一个所述接收天线 单元的任意组合;
首先,利用通过所述信号获取步骤获取的接收信号,沿所述发射天线 单元和所述接收天线单元中的任意一个的阵列轴执行第一空间频率分析;
其次,利用所述第一空间频率分析的结果,沿所述发射天线单元和所 述接收天线单元中的另一个的阵列轴执行第二空间频率分析;以及
根据来自所述第二空间频率分析的分析结果,确定反射所述搜索信号 的目标的方位角。
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