[发明专利]LED芯片的P型GaN层的制备方法有效
| 申请号: | 201110129769.X | 申请日: | 2011-05-18 |
| 公开(公告)号: | CN102227008A | 公开(公告)日: | 2011-10-26 |
| 发明(设计)人: | 徐迪;梁智勇;苗振林 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;C23C16/34 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明 |
| 地址: | 423038 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | led 芯片 gan 制备 方法 | ||
1.一种LED芯片的P型GaN层的制备方法,包括:
步骤a)向MOCVD反应室里,通入H2,对所述反应室进行降压,并加热衬底;
步骤b)降低所述反应室的温度,并加入NH3和TMGa,在衬底上生长缓冲层;
步骤c)升高所述反应室的温度,并加入NH3和TMGa,在所述缓冲层上生长uGaN层;以及
步骤d)在所述uGaN层上生长掺杂P型GaN层,
其特征在于,步骤d)包括在所述uGaN层上执行的以下处理:
步骤d1)生长掺In和Mg的P型GaN层;以及
步骤d2)从所述掺In和Mg的P型GaN层析出In,形成掺Mg的P型GaN层。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,重复多次所述步骤d1)和d2)。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,重复10~100次所述步骤d1)和d2)。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤a)中将所述反应室压力降至100~200mbar,将所述衬底加热到1000℃~1100℃,保持5min~10min。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤b)中将温度降至480℃~550℃,在H2气氛下,在所述衬底上生长缓冲层。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤c)中将温度升高到1000~1100℃,生长不掺杂uGaN层。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤d1)中将温度降到720~820℃,将N2作为载气在uGaN层上生长掺In和Mg的P型GaN层,其中In的摩尔组分含量大于0%且小于20%。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤d2)中将H2作为载气,将温度升高到820~1020℃,保持4min~10min。
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